[发明专利]激光切割面条纹深度的检测方法

说明书

本发明提供一种激光切割面条纹深度的检测方法，包括：获取切割面放大倍数≥100倍的完整图像，并截取完整图像的两个横向截面数据；对两个横向截面数据进行纵向连接，以得到波形数据；获取波形数据的多个波峰值和多个波谷值，计算每个波峰值与相邻的两个波谷值的差值，并将较大的差值记为当前条纹的深度；获取多个当前条纹的深度，并计算平均值，以得到激光切割面条纹的深度数据。本发明实施例提供的激光切割面条纹深度的检测方法，通过对切割面的图像进行放大，并截取截面数据，然后对截面数据进行算法处理，可将切割面的条纹深度信息提取出来，对激光切割面条纹形成了定量的描述，为激光切割面质量客观评价提供了依据。

技术领域

本发明涉及激光切割面质量评价技术领域，尤其涉及一种激光切割面条纹深度的检测方法。

背景技术

激光切割技术被广泛应用于金属和非金属材料的加工中，其可大大减少加工时间、降低加工成本、提高工件质量。激光切割技术涵盖了光学、材料科学与工程、机械制造学、数控技术及电子技术等学科，属于当前国内外科技界和产业界共同关注的热点。

激光切割切缝小，精度高，在激光应用行业中，激光切割占了70％的应用。高质量的切割，切割后的工件可直接应用于工业生产与制造、组装等，从而节省了大量时间、材料以及成本。而当前激光切割质量的评价主要是通过凭借人工经验来评价，切割面质量缺乏定量及定性地描述。

因此，如何对激光切割面的质量进行定量描述成为亟待解决的问题。

发明内容

本发明提供一种激光切割面条纹深度的检测方法，用以解决现有技术中激光切割面的质量无法进行定量描述的缺陷，实现激光切割面条纹信息数据化。

本发明提供一种激光切割面条纹深度的检测方法，包括：获取切割面放大倍数≥100倍的完整图像，并截取所述完整图像的两个横向截面数据；对两个所述横向截面数据进行纵向连接，以得到波形数据；获取所述波形数据的多个波峰值和多个波谷值，计算每个所述波峰值与相邻的两个所述波谷值的差值，并将较大的差值记为当前条纹的深度；获取多个所述当前条纹的深度，并计算平均值，以得到激光切割面条纹的深度数据。

根据本发明提供的一种激光切割面条纹深度的检测方法，所述获取切割面放大倍数≥100倍的完整图像，并截取所述完整图像的两个横向截面数据的步骤进一步包括：将放大后的局部图像进行图像拼接，以得到所述完整图像，其中，所述完整图像中试样表面条纹的长度达到原表面条纹长度的80％及以上。

根据本发明提供的一种激光切割面条纹深度的检测方法，所述获取所述波形数据的多个波峰值和多个波谷值，计算每个所述波峰值与相邻的两个所述波谷值的差值，并将较大的差值记为当前条纹的深度的步骤进一步包括：基于快速傅里叶变换计算所述波形数据的多个极大值和多个极小值，其每个极大值和每个极小值的计算公式为：

P_up＝{D_i|D_i+1≤D_i,D_i-1≤D_i}；

P_dn＝{D_i|D_i+1≥D_i,D_i-1≥D_i}；

其中，P_up为极大值，P_dn为极小值，D为横向截面数据。

根据本发明提供的一种激光切割面条纹深度的检测方法，所述获取所述波形数据的多个波峰值和多个波谷值，计算每个所述波峰值与相邻的两个所述波谷值的差值，并将较大的差值记为当前条纹的深度的步骤进一步包括：过滤x轴上横向阈值小于第一预设值的极值，以得到多个横向阈值大于等于第一预设值的极值，所述极值的x轴坐标点的计算公式为：