[发明专利]一种面向故障分类的存储器测试系统及方法

权利要求书

1.一种面向故障分类的存储器测试系统，其特征在于，包括存储器端口选择器（102），所述存储器端口选择器（102）分别与存储器（101）和存储器测试控制器（103）相连；所述存储器测试控制器（103）分别连接小周期故障记录内容可寻址存储器（104）、大周期故障记录内容可寻址存储器（105）和大周期故障次数记录单元（106）；

所述存储器端口选择器（102），用于连接外部设备与存储器（101），或连接存储器（101）与存储器测试控制器（103）；

所述存储器测试控制器（103），用于生成测试信号，对存储器（101）进行故障测试，并获取反馈数据；

所述小周期故障记录内容可寻址存储器（104），用于记录存储器（101）在小周期测试中的故障地址，并对小周期测试得到的故障地址进行不重复存储；其中小周期为存储器（101）进行一次测试所需的时间；

所述大周期故障记录内容可寻址存储器（105），用于记录大周期测试中每个故障地址所对应的故障次数；其中一轮出现故障的小周期测试作为一次故障进行记录，每个大周期测试包括N个小周期测试；

所述大周期故障次数记录单元（106），用于记录大周期内每个故障地址的故障次数；

对于一个故障地址，若大周期故障次数记录单元（106）的值为N，则判定该故障地址为永久性故障；若大周期故障次数记录单元（106）的值为1，则判定该故障地址为瞬时故障；若大周期故障次数记录单元（106）的值位于2至N-1之间，则判定该故障地址为间歇性故障。

2.根据权利要求1所述的面向故障分类的存储器测试系统，其特征在于，所述存储器测试控制器（103）包括控制模块（201），以及与控制模块（201）相连接的地址生成模块（202）、数据生成模块（203）、读写比较模块（204）、读写信号生成模块（205）和内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块（206）；所述读写比较模块（204）分别与数据生成模块（203）和读写信号生成模块（205）相连接；

所述控制模块（201），用于根据测试启动信号生成与存储器端口选择器（102）的交互信号，获取读写比较模块（204）的比较结果，将读写比较模块（204）的比较结果发送至内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块（206）；

所述地址生成模块（202），用于生成存储器（101）的测试地址；

所述数据生成模块（203），用于生成对存储器（101）的写数据，向读写比较模块（204）输入比较数据；

所述读写比较模块（204），用于将数据生成模块（203）生成的比较数据与存储器（101）的读数据进行比较，并将比较结果反馈给控制模块（201）；

所述读写信号生成模块（205），用于生成对读写比较模块（204）的比较使能信号与对存储器（101）的读写使能信号；

所述内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块（206），用于根据测试及故障分类的工作流程生成与小周期故障记录内容可寻址存储器（104）、大周期故障记录内容可寻址存储器（105）和大周期故障次数记录单元（106）之间的交互信号。

3.根据权利要求1所述的面向故障分类的存储器测试系统，其特征在于，所述小周期故障记录内容可寻址存储器（104）包括小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针；其中

小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针，用于记录小周期故障记录内容可寻址存储器（104）中用来存储新的故障地址信息的内容可寻址存储器地址；

小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针，用于记录在顺序遍历小周期故障记录内容可寻址存储器（104）过程中接下来需要访问的地址。

4.根据权利要求1所述的面向故障分类的存储器测试系统，其特征在于，所述大周期故障记录内容可寻址存储器（105）包括大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针；其中

大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针，用于记录大周期故障记录内容可寻址存储器（105）中用来存储新的故障地址信息的内容可寻址存储器地址；

大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针，用于记录在顺序遍历大周期故障记录内容可寻址存储器（105）过程中接下来需要访问的地址。