[发明专利]一种面向故障分类的存储器测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种面向故障分类的存储器测试系统及方法。系统包括存储器端口选择器，存储器端口选择器分别与存储器和存储器测试控制器相连；存储器测试控制器分别连接小周期故障记录内容可寻址存储器、大周期故障记录内容可寻址存储器和大周期故障次数记录单元。本发明采用大小周期结合的测试方法解决了现有技术中存储器测试电路实现故障分类的方法过于繁琐、面积开销较大，没有考虑间歇性故障的发生需要一定时间的问题。本发明可以以高效、准确、低开销的方式实现对存储器单元故障类型的分类，便于后续修复工作的开展。

技术领域

本发明涉及存储器测试领域，具体涉及一种面向故障分类的存储器测试系统及方法。

背景技术

随着集成电路集成度的提高，越来越多的IP核被集成到片上系统(SoC)中，使得集成电路能够高效并行地处理任务。现在的SoC中，占有最大片上空间的IP核就是嵌入式存储器，因此嵌入式存储器的可靠性和稳定性对整个系统的可靠性和稳定性尤为重要。为了提高嵌入式存储器的可靠性，需要定期测试存储器以进行故障诊断。内建自测试技术(MBIST)由于其能够实现高效、低成本的测试，逐渐成为了存储器测试的主流方案。

根据故障的持续时间不同，集成电路的故障可以分为三类，不同类型的故障具有不同的产生机制。第一类是永久性故障，指集成电路中发生了固定、不能恢复、不可逆转的物理性改变；第二类是间歇性故障，指集成电路在特定的温度、电压等周围环境的影响下间歇性发生故障；第三类是瞬时故障，指随机发生没有规律，瞬时性可恢复的故障。在存储器老化过程中，随着瞬时故障的增多，会转变为间歇性故障和永久性故障。针对不同的存储器故障类型，可以采用针对性的修复方法，因此需要一种面向故障分类的存储器测试电路对存储器的故障类型进行判断。

发明内容

针对现有技术中的上述不足，本发明提供的一种面向故障分类的存储器测试系统及方法可以对存储器的故障类型进行判断。

为了达到上述发明目的，本发明采用的技术方案为：

提供一种面向故障分类的存储器测试系统，其包括存储器端口选择器，存储器端口选择器分别与存储器和存储器测试控制器相连；存储器测试控制器分别连接小周期故障记录内容可寻址存储器、大周期故障记录内容可寻址存储器和大周期故障次数记录单元；

存储器端口选择器，用于连接外部设备与存储器，或连接存储器与存储器测试控制器；

存储器测试控制器，用于生成测试信号，对存储器进行故障测试，并获取反馈数据；

小周期故障记录内容可寻址存储器，用于记录存储器在小周期测试中的故障地址，并对小周期测试得到的故障地址进行不重复存储；其中小周期为存储器进行一次测试所需的时间；

大周期故障记录内容可寻址存储器，用于记录大周期测试中每个故障地址所对应的故障次数；其中一轮出现故障的小周期测试作为一次故障进行记录，每个大周期测试包括N个小周期测试。

进一步地，存储器测试控制器包括控制模块，以及与控制模块相连接的地址生成模块、数据生成模块、读写比较模块、读写信号生成模块和内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块；读写比较模块分别与数据生成模块和读写信号生成模块相连接；

控制模块，用于根据测试启动信号生成与存储器端口选择器的交互信号，获取读写比较模块的比较结果，将读写比较模块的比较结果发送至内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块；

地址生成模块，用于生成存储器的测试地址；

数据生成模块，用于生成对存储器的写数据，向读写比较模块输入比较数据；

读写比较模块，用于将数据生成模块生成的比较数据与存储器的读数据进行比较，并将比较结果反馈给控制模块；

读写信号生成模块，用于生成对读写比较模块的比较使能信号与对存储器的读写使能信号；