[发明专利]一种箭形固相微萃取的气态污染物的测试方法在审

专利信息
申请号: 202011418264.0 申请日: 2020-12-07
公开(公告)号: CN112798699A 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 唐铭;王璐阳;丁莉;苑蕊;石安美;刘宁睿;张然;张秋雨;韩英;柳敏;王倩倩;张寅平 申请(专利权)人: 中国国家博物馆;清华大学
主分类号: G01N30/02 分类号: G01N30/02;G01N30/72;G01N1/22
代理公司: 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 代理人: 严海晨
地址: 100006 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 箭形固相微 萃取 气态 污染物 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种箭形固相微萃取的气态污染物测试方法,其特征是包括如下步骤:(1)老化;(2)采样;(3)测试;(4)稀释;(5)获得标准曲线;(6)质谱图分析;(7)吸附;(8)获得分配系数;(9)获得气相浓度。

2.根据权利要求1所述的一种箭形固相微萃取的气态污染物测试方法,其特征所述步骤(1)老化:使用老化装置老化N个涂覆有X填料的箭形固相微萃取采样器,老化温度为100到300℃,老化时间为2到60分钟,老化次数为1到10次;所述的填料为丙烯酸酯、聚二甲基硅氧烷、活性炭与聚二甲基硅氧烷复合填料或聚二甲基硅氧烷与二乙烯基苯复合填料中的一种。

3.根据权利要求1所述的一种箭形固相微萃取的气态污染物测试方法,其特征所述步骤(2)采样:使用步骤(1)老化后的N个涂覆有X填料的箭形固相微萃取采样器,采集N个不同空间位置气态污染物,采样时间为2到240分钟,获得N个箭形固相微萃取样品。

4.根据权利要求1所述的一种箭形固相微萃取的气态污染物测试方法,其特征所述步骤(3)测试:使用气相高分辨质谱对步骤(2)中的N个箭形固相微萃取样品进行测试,获得N张质谱图。

5.根据权利要求1所述的一种箭形固相微萃取的气态污染物测试方法,其特征所述步骤(4)稀释:将P个化合物的标准品各自分别稀释成B(B5)个浓度的标准使用液,获得P个化合物各自的标准序列。

6.根据权利要求1所述的一种箭形固相微萃取的气态污染物测试方法,其特征所述步骤(5)获得标准曲线:使用气相高分辨质谱测试步骤(4)中的P个化合物各自的标准序列,建立P个化合物各自质谱强度与含量的映射关系,获得P个化合物各自的标准曲线。

7.根据权利要求1所述的一种箭形固相微萃取的气态污染物测试方法,其特征所述步骤(6)质谱图分析:使用步骤(5)获得的P个化合物各自的标准曲线处理步骤(3)获得的N张质谱图,获得N张质谱中各张质谱图中P个化合物的含量。

8.根据权利要求1所述的一种箭形固相微萃取的气态污染物测试方法,其特征所述步骤(7)吸附:使用标准气体发生装置分别准确发生P个化合物的W浓度的标准气体,同时使用P个步骤(1)的涂覆有X填料的箭形固相微萃取采样器分别吸附P个浓度为W的化合物的标准气体,然后根据步骤(2)、(3)、(4)、(5)和(6)获得P个涂覆有X填料的箭形固相微萃取采样器上吸附的P个化合物的含量。

9.根据权利要求1所述的一种箭形固相微萃取的气态污染物测试方法,其特征所述步骤(8)获得分配系数:将步骤(7)中获得的P个涂覆有X填料的箭形固相微萃取采样器上吸附的P个化合物的含量,根据公式(1)获得P个化合物各自的分配系数;

公式(1)

其中,M为涂覆有X填料的箭形固相微萃取上吸附的P个化合物的含量,K为P个化合物中每个化合物的分配系数,Ca为标准气体发生装置分别准确发生的P个化合物的标准气体浓度(μg/m3),Vfc为涂覆有X填料的箭形固相微萃取的X涂层的体积(m3)。

10.根据权利要求1所述的一种箭形固相微萃取的气态污染物测试方法,其特征所述步骤(9)获得气相浓度:使用步骤(6)获得的N张质谱中各张质谱图中P个化合物的含量和步骤(8)获得的P个化合物各自的分配系数,按照公式(1)即可获得N张质谱图中P个化合物各自的气相浓度,实现气相高分辨质谱的气态污染物测试。

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