[发明专利]对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法和图像处理系统以及芯片托盘堆叠检测装置

权利要求书

1.一种用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法，芯片托盘堆叠包括多个叠置在一起的芯片托盘，每个芯片托盘容纳有多个位于相应托盘凹坑中的芯片，所述图像是由成像系统获取的所述芯片托盘堆叠的侧面的图像，所述方法包括：

从所述成像系统接收所述图像；

对所述图像进行预处理；

对已经预处理的所述图像进行处理和分析；以及

发出对所述图像进行处理和分析的结果。

2.如权利要求1所述的用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法，其特征在于，所述对所述图像进行预处理包括：

通过选取阈值对所述图像进行二值化处理，以从所述图像中去除噪声。

3.如权利要求2所述的用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法，其特征在于，所述对所述图像进行预处理还包括：

通过连通域分析消除二值化处理的图像中单独的高灰度值像素点。

4.如权利要求2所述的用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法，其特征在于，所述对所述图像进行预处理还包括：

提取图像的感兴趣区域并且将所述感兴趣区域移动到算法工具中。

5.如权利要求1所述的用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法，其特征在于，所述对已经预处理的所述图像进行处理和分析包括：

通过对所述图像的各个像素点的灰度值在X和Y方向上求导并且叠加，从而获得图像求导后的轮廓图。

6.如权利要求5所述的用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法，其特征在于，所述对已经预处理的所述图像进行处理和分析还包括：

对图像求导后的轮廓图进行直线拟合并且去除Y轴信息；

将所获得的直线中每条直线的斜率与对应类型的芯片托盘堆叠的预设斜率进行比较；以及

根据所获得的直线中每条直线的斜率与预设斜率是否一致来确定是否存在芯片从托盘凹坑移出的情况。

7.如权利要求6所述的用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法，其特征在于，所述预设斜率是可以调节的。

8.如权利要求5所述的用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法，其特征在于，所述对已经预处理的所述图像进行处理和分析还包括：

将图像求导后的轮廓图划分成多个列，并且将每列细分成多个子区域；

根据每个子区域的四个角的坐标确定出每个子区域的中心的坐标；

求出相邻子区域的中心坐标的Y值之间的差值，并且将每个差值与预设差值进行比较；以及

根据相应差值与预设差值是否一致来确定是否存在芯片从托盘凹坑移出的情况。

9.如权利要求8所述的用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法，其特征在于，所述预设差值是可以调节的。

10.如权利要求1所述的用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法，其特征在于，所述发出对所述图像进行处理和分析的结果包括以下方式中的至少一种：

向操作人员发送邮件；

向操作人员发送短信；

发出闪烁光和音频警报；

在显示屏上以GUI方式显示；以及

在显示屏上以GUI方式显示故障跟踪标记。

11.如权利要求10所述的用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法，其特征在于，所述发出对所述图像进行处理和分析的结果还包括存储所述结果。

12.一种用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的图像处理系统，包括有用于存储指令的存储器以及与存储器耦合的处理器，在处理器运行所述指令时，所述处理器执行如权利要求1-11任一所述的用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的方法。

13.一种芯片托盘堆叠检测装置，包括：

用于对芯片托盘堆叠的各个侧面进行成像的成像系统；以及

如权利要求12所述的用于对芯片托盘堆叠的图像进行处理和分析的图像处理系统。