[发明专利]一种CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法

权利要求书

1.一种CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法，其特征在于：将CT探测器核心部件放入高加速寿命试验箱中，控制高加速寿命试验箱同时进行温度、振动循环周期性试验，并通过高低温循环变化，逐步增加温度应力系数,在每个高温点向低温点变化的同时，振动应力步进增加，在各相应时间点进行失效判断和失效统计，直到试验样品全部失效为止，并进行失效分析，鉴定CT探测器的平均无故障时间；

控制所述的高加速寿命试验箱的温度应力以阶梯式周期性变化，温度依次为T₁’、T₁、T₂’、T₂、T₃’、T₃、T₄’、T₄、T₅’、T₅、T₆’、T₆，对应运行时间范围为t₁’、t₁、t₂’、t₂、t₃’、t₃、t₄’、t₄、t₅’、t₅、t₆’、t₆，升降温平均速度设定为30～40℃/min，如下表所示：

所述的控制高加速寿命试验箱的振动应力以阶梯式周期性变化，振动量级依次为G₁、G₂、G₃、G₄、G₅、G₆，运行时间依次为tg₁、tg₂、tg₃、tg₄、tg₅、tg₆，振动量级步进值为5grms，如下表所示：

当高加速寿命试验箱内温度应力降温至T₁’的同时，振动量级以5grms的步进值升至G₁并保持时间tg₁，温度T₁’保持时间t₁’，再以30～40℃/min的速率升温至T₁并保持时间t₁；然后温度T₁以30～40℃/min的速率降温至T₂’并保持时间t₂’，同时振动量级以5grms的步进值升至G₂并保持时间tg₂，随后与以上过程类似，温度依次变化为T₂、T₃’、T₃、T₄’、T₄、T₅’、T₅、T₆’、T₆，振动量级依次变化为G₃、G₄、G₅、G₆。

2.根据权利要求1所述的一种CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法，其特征在于：所述的在各相应时间点进行失效判断，具体是：试验前，对每件样品进行功能及性能检查，试验过程中，在每个循环的每个高温点及低温点要停留10～15min，每个振动量级点停留20～30min，并使温度应力/振动应力稳定后再执行功能及性能检查；即在一个周期内，分别在t₁’、t₁、t₂’、t₂、t₃’、t₃、t₄’、t₄、t₅’、t₅、t₆’、t₆结束时进行失效判断；当出现任何一种故障判据的状态时，判定产品出现故障，填写《可靠性验证试验故障报告表》，并记录失效时间和失效时的温度、湿度、振动量级，进行失效分析，鉴定CT探测器的平均无故障时间。