[发明专利]一种CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法

说明书

本发明公开了一种CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法。本发明将CT探测器核心部件放入高加速寿命试验箱中，控制高加速寿命试验箱同时进行温度、振动循环周期性试验。并通过高低温循环变化，逐步增加温度应力系数。在每个高温点向低温点变化的同时，振动应力步进增加。在各相应时间点进行失效判断和失效统计，直到试验样品全部失效为止，最后进行失效分析，鉴定探测器核心部件的平均无故障工作时间。本发明避免了正常寿命试验方法样机数大、耗时久的缺点，相比普通的高低温循环试验、振动步进试验大大缩短了试验时间。在短期内快速激发核心部件的潜在故障，为产品的整体设计提供全过程技术支持，有效提高产品的可靠性水平。

技术领域

本发明涉及一种CT探测器的可靠性试验方法，尤其是涉及一种CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法。

背景技术

CT设备作为临床诊断的重要设备，使用需求和频率陡增，其核心部件CT探测器，经过多年设计思想和工艺材料上的革新改进，性能愈发优异。但对于CT探测器的可靠性水平，国内外更多地集中在整机设备的可靠性研究，对于探测器核心部件的可靠性研究较少。随着国产化CT探测器市场需求逐步释放，开展对其可靠性提升相关研究将有力地增强国产化CT探测器的市场竞争力，对于CT设备的质量的提升具有重要意义。

CT探测器核心部件的平均无故障工作时间指标是可靠性的一项综合性指标。目前，平均无故障工作时间评估主要有常规现场统计法、加速寿命试验两种方法。常规现场统计法是在正常工作环境下运行获取试验数据，进行统计分析。但由于CT探测器运行环境——医院的特殊性，现场收集故障数据的周期之长，操作人员水平、使用技术条件等存在差异，无法实时、准确、有效收集到现场数据。

利用加速寿命试验可以加快产品失效、缩短试验时间，以便在较短的时间内得到产品的失效数据。目前存在的三种加速寿命试验方法主要有恒定应力加载寿命试验方法、步进应力加速寿命试验方法和序进应力加速寿命试验方法，但分别存在试验周期长、应力加载过程具有不可逆等缺点，无法实现快速准确有效获得故障数据进行统计分析。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的不足，提供一种CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法，该方法采用基于过程信息的可靠性综合评价方法，可以用来快速获得CT探测器核心部件的故障数据，进而实现快速获得CT探测器的平均无故障工作时间的目的。

本发明采取的技术方案为：

本发明是将CT探测器核心部件放入高加速寿命试验箱中，控制高加速寿命试验箱同时进行温度、振动循环周期性试验，并通过高低温循环变化，逐步增加温度应力系数,在每个高温点向低温点变化的同时，振动应力步进增加，在各相应时间点进行失效判断和失效统计，直到试验样品全部失效为止，并进行失效分析，鉴定探测器的平均无故障时间。

本发明的有益效果：

1、避免了正常寿命试验方法样机数大、耗时久的缺点，大大缩短了试验时间。

2、在短期内为探测器核心部件的整体设计提供全过程技术支持，有效提高产品的可靠性水平。

附图说明

图1为试验过程中应力控制过程图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明作进一步说明。

通常，影响CT探测器核心部件可靠性的主要因素包括温度、湿度、振动。本发明是在同一环境的温度、湿度、电压条件下，分别设定高加速寿命试验箱的温度、振动以阶梯式周期性变化，加速CT探测器核心部件的寿命衰竭过程，从而实现快速评估CT探测器核心部件平均无故障工作时间的目的。

本发明将温度应力与振动应力相结合，并通过高低温循环变化，逐步增加温度应力系数。在每个高温点向低温点变化的同时，振动应力步进增加。该方法相比普通的高低温循环试验、振动步进试验能更加缩短试验时间，快速激发产品的潜在故障。