[发明专利]一种飞秒激光直写LFPG结合光纤MZI结构的双参数测试方法在审

专利信息
申请号: 202011431471.X 申请日: 2020-12-07
公开(公告)号: CN112762983A 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 张雯;祝连庆;何巍;董明利;李红;庄炜;何彦霖 申请(专利权)人: 北京信息科技大学
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02;G01K11/32;G01N21/45;G02B6/02;G02B6/255
代理公司: 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 代理人: 王琦;庞立岩
地址: 100085 北京市海淀区清*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 lfpg 结合 光纤 mzi 结构 参数 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种飞秒激光直写LFPG结合光纤MZI结构制备方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

(a)制备纤芯失配型光纤MZI结构,

步骤a1、将两段SMF-28单模光纤端面去除涂覆层,经酒精擦拭后切平,置于熔接机内,采用纤芯对准方式,将光纤两端纤芯错位熔接后取出;步骤a2、一定长度后再次去除涂覆层并擦拭切平,置于熔接机内,再次错位熔接,得到纤芯失配型光纤MZI结构;

(b)飞秒激光制备长周期光纤光栅,

步骤b1、将所述纤芯失配型光纤MZI结构置于三维移动平台上,保证视野清晰,将飞秒激光光斑聚焦至纤芯;步骤b2、采用直写方式在所述纤芯失配型光纤MZI结构上制备长周期光纤光栅,得到光纤传感器。

2.根据权利要求1所述的温度钙离子浓度双参数传感器的制备方法,其特征在于,所述单模光纤型号为SFM-28的普通单模光纤,包层直径125um,纤芯直径9um。

3.一种飞秒激光直写LFPG结合光纤MZI结构的双参数测试方法,其特征在于,所述方法具体包括以下步骤:

步骤301、将飞秒激光直写LFPG结合光纤MZI结构置于加热台表面,通过光纤环行器与光源、光谱分析仪相连;

步骤302、通过改变所述加热台温度改变所述飞秒激光直写LFPG结合光纤MZI结构温度;

步骤303、通过胶头滴管将待测液体滴于所述飞秒激光直写LFPG结合光纤MZI结构表面,用于进行折射率传感测试;

步骤304、所述光纤环行器将所述飞秒激光直写LFPG结合光纤MZI结构的透射光谱输至所述光谱分析仪进行反射光谱采集。

4.根据权利要求3所述的测量方法,其特征在于,当外界温度发生变化,透射光谱谱线会发生漂移。

5.根据权利要求3所述的测量方法,其特征在于,所述光源采用波段范围为1520-1610nm的ASE光源。

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