[发明专利]窑炉内电极砖侵蚀量计算方法和计算装置有效

专利信息
申请号: 202011444462.4 申请日: 2020-12-08
公开(公告)号: CN112528496B 公开(公告)日: 2023-08-11
发明(设计)人: 李青;李赫然;何怀胜;王小虎;杨世民;王文顺;王俊;方军;杨道辉;沈利芳 申请(专利权)人: 芜湖东旭光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司;东旭科技集团有限公司
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 肖冰滨;王晓晓
地址: 241000 安徽省芜湖*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 窑炉内 电极 侵蚀 计算方法 计算 装置
【权利要求书】:

1.一种窑炉内电极砖侵蚀量计算方法,所述窑炉内有至少一组相对设置的第一电极砖和第二电极砖,其特征在于,所述方法包括:

获取所述第一电极砖与所述第二电极砖间的初始加载电流、玻璃导体的截面积、玻璃导体的初始长度、所述第一电极砖的初始对地电压以及所述第二电极砖的初始对地电压;

获取窑炉运行预设时长后所述第一电极砖与所述第二电极砖间的运行电流、所述第一电极砖的实际对地电压以及所述第二电极砖的实际对地电压;

基于所述玻璃导体的截面积、所述玻璃导体的初始长度、所述初始加载电流、所述第一电极砖的初始对地电压、所述第二电极砖的初始对地电压、所述运行电流、所述第一电极砖的实际对地电压和所述第二电极砖的实际对地电压,根据电阻定律和欧姆定律,计算得到窑炉运行预设时长后所述第一电极砖和所述第二电极砖之间玻璃导体的实际长度;

基于所述玻璃导体的初始长度与所述玻璃导体的实际长度计算得到电极砖总侵蚀量;

基于所述第一电极砖的初始对地电压和所述第一电极砖的实际对地电压,得到所述第一电极砖的单侧电压差值;

基于所述第二电极砖的初始对地电压和所述第二电极砖的实际对地电压,得到所述第二电极砖的单侧电压差值;

基于所述第一电极砖的初始对地电压、所述第二电极砖的初始对地电压、所述第一电极砖的实际对地电压和所述第二电极砖的实际对地电压,得到所述第一电极砖与所述第二电极砖之间的总电压变化差值;

基于所述第一电极砖的单侧电压差值、所述总电压变化差值和所述电极砖总侵蚀量,得到第一电极砖的侵蚀量;

基于所述第二电极砖的单侧电压差值、所述总电压变化差值和所述电极砖总侵蚀量,得到第二电极砖的侵蚀量。

2.根据权利要求1所述的窑炉内电极砖侵蚀量计算方法,其特征在于,获取所述第一电极砖与所述第二电极砖间的玻璃导体的截面积、玻璃导体的初始长度,包括:

获取窑炉的基本结构参数,包括:窑炉深度、窑炉宽度、窑炉长度和窑炉长度方向上电极砖累计对数;

基于所述基本结构参数得到所述第一电极砖和所述第二电极砖之间玻璃导体的初始长度、所述第一电极砖和所述第二电极砖的高度和宽度;

基于所述第一电极砖和所述第二电极砖的高度和宽度,计算得到第一电极砖和第二电极砖之间玻璃导体的截面积;

基于所述玻璃导体的初始长度与所述玻璃导体的实际长度计算得到电极砖总侵蚀量,包括:

计算所述玻璃导体的初始长度与所述玻璃导体的实际长度之间的差值作为所述电极砖总侵蚀量。

3.根据权利要求2所述的窑炉内电极砖侵蚀量计算方法,其特征在于,基于所述第一电极砖的单侧电压差值、所述总电压变化差值和所述电极砖总侵蚀量,得到第一电极砖的侵蚀量,包括:

计算得到所述第一电极砖的单侧电压差值与所述总电压变化差值的比值;

计算所述第一电极砖的单侧电压差值与所述总电压变化差值的比值和所述电极砖总侵蚀量之间的乘积,得到第一电极砖的侵蚀量;

基于所述第二电极砖的单侧电压差值、所述总电压变化差值和所述电极砖总侵蚀量,得到第二电极砖的侵蚀量,包括:

计算所述第二电极砖的单侧电压差值与所述总电压变化差值的比值;

计算所述第二电极砖的单侧电压差值与所述总电压变化差值的比值和所述电极砖总侵蚀量之间的乘积,得到第二电极砖的侵蚀量。

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