[发明专利]一种基于频域介电谱的架空线老化状态分析方法及系统

权利要求书

1.一种基于频域介电谱的架空线老化状态分析方法，其特征在于，所述方法包括：

计算机设备确定待测试品信息；

频域介电谱测试仪基于预设测试频率范围，对所述待测试品当前老化状态下的频域介电谱进行测试，并将测试结果发送给所述计算机设备；

所述计算机设备在预存的介电谱数据库中确定所述待测试品无老化状态下的频域介电谱，以及确定所述待测试品完全老化状态下的频域介电谱；

所述计算机设备将接收到的来自所述频域介电谱测试仪的所述待测试品当前老化状态下的频域介电谱，与所述待测试品无老化状态下的频域介电谱以及所述待测试品完全老化状态下的频域介电谱进行对比，以确定所述待测试品的当前老化状态。

2.根据权利要求1所述的一种基于频域介电谱的架空线老化状态分析方法，其特征在于，所述计算机设备确定待测试品信息，具体包括：

所述计算机设备确定待测试品的型号；

所述计算机设备确定所述待测试品的一端为导体，另一端为绝缘层；其中，所述绝缘层的两端绕有铜线，中间位置绕有铜网，以作为所述频域介电谱测试过程中的低压电极。

3.根据权利要求2所述的一种基于频域介电谱的架空线老化状态分析方法，其特征在于，所述计算机设备确定待测试品信息，还包括：

所述计算机设备确定所述待测试品绝缘层两端的铜线接地，以将所述待测试品绝缘层表面的泄漏电流导出。

4.根据权利要求2所述的一种基于频域介电谱的架空线老化状态分析方法，其特征在于，所述计算机设备在预存的介电谱数据库中确定所述待测试品无老化状态下的频域介电谱，以及确定所述待测试品完全老化状态下的频域介电谱，具体包括：

所述计算机设备基于所述待测试品的型号，遍历所述介电谱数据库；

所述计算机设备在确定所述介电谱数据库中包含的任一频域介电谱对应的电缆型号与所述待测试品的型号相同的情况下，确定所述待测试品无老化状态下的频域介电谱以及确定所述待测试品完全老化状态下的频域介电谱。

5.根据权利要求1所述的一种基于频域介电谱的架空线老化状态分析方法，其特征在于，所述计算机设备将接收到的所述待测试品当前老化状态下的频域介电谱，与所述待测试品无老化状态下的频域介电谱以及所述待测试品完全老化状态下的频域介电谱进行对比，以确定所述待测试品的当前老化状态，具体包括：

所述计算机设备将所述待测试品当前老化状态下的频域介电谱，与所述待测试品无老化状态下的频域介电谱以及所述待测试品完全老化状态下的频域介电谱在同一介电谱图中进行显示；

所述计算机设备基于预先划分的第一频率范围、第二频率范围以及第三频率范围，分别将所述待测试品当前老化状态下的频域介电谱，与所述待测试品无老化状态下的频域介电谱以及所述待测试品完全老化状态下的频域介电谱进行对比；其中，所述第一频率范围为0.001-0.1HZ；所述第二频率范围为0.1HZ-10HZ；所述第三频率范围为10HZ-1kHZ。

6.根据权利要求5所述的一种基于频域介电谱的架空线老化状态分析方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述计算机设备在所述第一频率范围下，确定所述待测试品当前老化状态下的频域介电谱值小于所述待测试品未老化状态下的频域介电谱值，且大于所述待测试品完全老化状态下的频域介电谱值时，确定所述待测试品的当前老化状态为存在老化。

7.根据权利要求6所述的一种基于频域介电谱的架空线老化状态分析方法，其特征在于，在所述确定所述待测试品当前老化状态为存在老化之后，所述方法还包括：

所述计算机设备确定所述待测试品的老化原因为漏导损耗。