[发明专利]深反射地震剖面随机介质参数确定方法、装置和电子设备

权利要求书

1.一种深反射地震剖面随机介质参数确定方法，其特征在于，包括：

获取深反射地震剖面数据；

利用预设数据采样窗口对所述深反射地震剖面数据进行滑动采样，得到所有子地震剖面数据；

基于现代谱分析方法确定目标子地震剖面数据的自相关函数；其中，所述目标子地震剖面数据为所述所有子地震剖面数据中的任意一个；

基于所述自相关函数确定所述目标子地震剖面数据的随机介质参数；

基于所述所有子地震剖面数据的随机介质参数确定所述深反射地震剖面数据的随机介质参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设数据采样窗口包括：二维数据采样窗口。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于现代谱分析方法确定目标子地震剖面数据的自相关函数，包括：

利用现代谱分析方法确定第一一维数据的功率谱和第二一维数据的功率谱；其中，所述第一一维数据为所述目标子地震剖面数据的所有横向一维数据中的任意一组数据，所述第二一维数据为所述目标子地震剖面数据的所有纵向一维数据中的任意一组数据；

将所述第一一维数据的功率谱进行傅里叶反变换，得到所述第一一维数据对应的一维自相关函数，以及，将所述第二一维数据的功率谱进行傅里叶反变换，得到所述第二一维数据对应的一维自相关函数；

基于所有横向一维数据的一维自相关函数和所有纵向一维数据的一维自相关函数确定所述目标子地震剖面数据的自相关函数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述自相关函数确定所述目标子地震剖面数据的随机介质参数，包括：

计算所有横向一维数据的一维自相关函数的平均值，得到横向平均自相关函数，以及，计算所有纵向一维数据的一维自相关函数的平均值，得到纵向平均自相关函数；

基于所述横向平均自相关函数确定横向自相关长度，以及，基于所述纵向平均自相关函数确定纵向自相关长度；

基于所述横向自相关长度和纵向自相关长度确定所述随机介质参数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，基于所述横向平均自相关函数确定横向自相关长度，以及，基于所述纵向平均自相关函数确定纵向自相关长度，包括：

利用最优化算法对所述横向平均自相关函数进行处理，得到横向自相关长度，以及，利用所述最优化算法对所述纵向平均自相关函数进行处理，得到纵向自相关长度；其中，所述最优化算法包括以下任一种：最小二乘拟合法，蒙特卡洛反演，特征向量法。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述现代谱分析方法包括以下任一种：AR模型频谱法，MA模型频谱法，ARMA模型频谱法，Prony模型频谱法。

7.一种深反射地震剖面随机介质参数确定装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取深反射地震剖面数据；

采样模块，用于利用预设数据采样窗口对所述深反射地震剖面数据进行滑动采样，得到所有子地震剖面数据；

第一确定模块，用于基于现代谱分析方法确定目标子地震剖面数据的自相关函数；其中，所述目标子地震剖面数据为所述所有子地震剖面数据中的任意一个；

第二确定模块，用于基于所述自相关函数确定所述目标子地震剖面数据的随机介质参数；

第三确定模块，用于基于所述所有子地震剖面数据的随机介质参数确定所述深反射地震剖面数据的随机介质参数。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述预设数据采样窗口包括：二维数据采样窗口。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

10.一种具有处理器可执行的非易失的程序代码的计算机可读介质，其特征在于，所述程序代码使所述处理器执行权利要求1至6中任一项所述的方法。