[发明专利]深反射地震剖面随机介质参数确定方法、装置和电子设备

说明书

本发明提供了一种深反射地震剖面随机介质参数确定方法、装置和电子设备，涉及地质勘探的技术领域，在获取到深反射地震剖面数据之后，首先将其拆分成多个子地震剖面数据，然后基于现代谱分析方法确定目标子地震剖面数据的自相关函数，进而求解目标子地震剖面数据的随机介质参数，最后根据所有子地震剖面数据的随机介质参数确定深反射地震剖面数据的随机介质参数。本发明先将深反射地震剖面数据拆分成相对较短的数据，然后采用现代谱分析方法求解短数据的自相关函数，其计算误差远小于直接进行自相关函数计算的方法，进而使得求解得到的随机介质参数更精确，有效的缓解了现有技术中的深反射地震剖面随机介质参数确定方法存在的准确性差的技术问题。

技术领域

本发明涉及地质勘探的技术领域，尤其是涉及一种深反射地震剖面随机介质参数确定方法、装置和电子设备。

背景技术

深反射地震剖面中的反射能量弱、同相轴连续性差、多成带状分布，这对地质构造、岩性信息的提取和地震资料的解释带来了巨大的困难。对地壳露头和大陆深钻测井的研究表明，地壳深部物质呈现出多尺度的非均质性。应用统计学原理，这种非均质特性可以用随机介质模型来进行描述。深反射地震资料继承了地下介质这种随机分布的非均质性，因此有可能通过深反射地震资料估算得到随机介质参数，从而为深反射地震资料解释提供依据。

随机介质参数的估算方法分为两步，首先计算自相关函数，然后利用自相关函数最优化求解随机介质参数，其中，自相关函数是对无限长整个随机序列的统计描述。现有技术在计算自相关函数时，往往直接进行自相关函数计算，也即，通过截取随机序列的一段数据进行自相关运算，这相当于认为截取外的数据为零，利用这种算法估算的自相关函数与实际的自相关函数存在误差，进而难以保证求解的随机介质参数的准确性。

综上所述，现有技术中的深反射地震剖面随机介质参数确定方法存在准确性差的技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种深反射地震剖面随机介质参数确定方法、装置和电子设备，以缓解了现有技术中的深反射地震剖面随机介质参数确定方法存在的准确性差的技术问题。

第一方面，本发明提供一种深反射地震剖面随机介质参数确定方法，包括：获取深反射地震剖面数据；利用预设数据采样窗口对所述深反射地震剖面数据进行滑动采样，得到所有子地震剖面数据；基于现代谱分析方法确定目标子地震剖面数据的自相关函数；其中，所述目标子地震剖面数据为所述所有子地震剖面数据中的任意一个；基于所述自相关函数确定所述目标子地震剖面数据的随机介质参数；基于所述所有子地震剖面数据的随机介质参数确定所述深反射地震剖面数据的随机介质参数。

在可选的实施方式中，所述预设数据采样窗口包括：二维数据采样窗口。

在可选的实施方式中，基于现代谱分析方法确定目标子地震剖面数据的自相关函数，包括：利用现代谱分析方法确定第一一维数据的功率谱和第二一维数据的功率谱；其中，所述第一一维数据为所述目标子地震剖面数据的所有横向一维数据中的任意一组数据，所述第二一维数据为所述目标子地震剖面数据的所有纵向一维数据中的任意一组数据；将所述第一一维数据的功率谱进行傅里叶反变换，得到所述第一一维数据对应的一维自相关函数，以及，将所述第二一维数据的功率谱进行傅里叶反变换，得到所述第二一维数据对应的一维自相关函数；基于所有横向一维数据的一维自相关函数和所有纵向一维数据的一维自相关函数确定所述目标子地震剖面数据的自相关函数。

在可选的实施方式中，基于所述自相关函数确定所述目标子地震剖面数据的随机介质参数，包括：计算所有横向一维数据的一维自相关函数的平均值，得到横向平均自相关函数，以及，计算所有纵向一维数据的一维自相关函数的平均值，得到纵向平均自相关函数；基于所述横向平均自相关函数确定横向自相关长度，以及，基于所述纵向平均自相关函数确定纵向自相关长度；基于所述横向自相关长度和纵向自相关长度确定所述随机介质参数。