[发明专利]雷达参数综合测量系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 202011451108.4 申请日: 2020-12-10
公开(公告)号: CN112698318A 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 颜卫忠;陈栋志;孔凡伟;钱婧怡;白旭东 申请(专利权)人: 上海航天电子有限公司;上海科学仪器厂有限公司
主分类号: G01S13/42 分类号: G01S13/42;G01S7/02;G01S7/40
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 孙瑜
地址: 201821 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 雷达 参数 综合 测量 系统 测量方法
【权利要求书】:

1.一种雷达参数综合测量系统,其特征在于,包括:

滑台(3),所述滑台(3)上表面设置有导轨;

滑台支架(2),所述滑台支架(2)沿所述导轨移动;所述滑台支架(2)上安装有反射器(1);

雷达(7)以及雷达支架(8);以及定标体(5)。

2.如权利要求1所述的雷达参数综合测量系统,其特征在于,所述滑台(3)还设置有滑台底部滑轮(6),用于便捷移动滑台(3)位置。

3.如权利要求1所述的雷达参数综合测量系统,其特征在于,所述滑台(3)设置有控制线(4),与上位机相连,用于控制滑台支架(2)的移动。

4.一种权利要求1-3任一项所述的雷达参数综合测量系统的测量方法,其特征在于,包括步骤:

步骤1:搭建雷达参数综合测量系统;

步骤2:雷达天线指向校准;

步骤3:根据不同参数测量需求驱动滑台使滑台支架(2)运动,并记录滑台支架(2)运动速度、运动时间、相对滑台(3)起点的位置等信息,同时记录雷达测量目标参数的结果;

步骤4:比较步骤3中的滑台支架(2)信息以及雷达测量结果,即可计算目标参数测量精度。

5.如权利要求4所述的雷达参数综合测量系统的测量方法,其特征在于,所述步骤1中,记录雷达(7)、雷达支架(8)、定标体(5)、滑台(3)、滑台支架(2)、反射器(1)的坐标信息。

6.如权利要求5所述的雷达参数综合测量系统的测量方法,其特征在于,所述步骤2中,在空间中选择第一条线即中轴线和第二条线即标记线,在所述第一条线上放置定标体(5),在所述第二条线上放置滑台(3)。

7.如权利要求6所述的雷达参数综合测量系统的测量方法,其特征在于,测量综合测量系统中轴线上的定标体(5)角度若定标体(5)角度小于阈值δ,即则无需校正;否则,当则雷达天线需顺时针转,反之,雷达天线逆时针转;天线固定后,再次测量定标体(5)角度如此反复调整天线指向,直至|θi|δ,则校准完成,且天线主轴方向记为

8.如权利要求7所述的雷达参数综合测量系统的测量方法,其特征在于,角度误差阈值δ需根据测角精度来设置。

9.如权利要求8所述的雷达参数综合测量系统的测量方法,其特征在于,所述步骤2中,当目标相对雷达(7)的角度需改变时,仅需改变雷达天线指向,滑台(3)可保持当前位置不变;假设初始目标相对雷达(7)的角度为θH,现欲将目标角度变为θ’H,则天线需旋转的角度为σ=(θH-θ’H),且σ0,天线顺时针旋转σ,反之,逆时针旋转。

10.如权利要求8所述的雷达参数综合测量系统的测量方法,其特征在于,当测试环境或测试条件改变时需对雷达天线指向重新校准。

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