[发明专利]雷达参数综合测量系统及测量方法

说明书

本发明实施例提供了一种雷达参数综合测量系统的测量方法，其特征在于，包括步骤：步骤1：搭建雷达参数综合测量系统；步骤2：雷达天线指向校准；步骤3：根据不同参数测量需求驱动滑台使滑台支架(2)运动，并记录滑台支架(2)运动速度、运动时间、相对滑台(3)起点的位置等信息，同时记录雷达测量目标参数的结果；步骤4：比较步骤3中的滑台支架(2)信息以及雷达测量结果，即可计算目标参数测量精度。本发明提出的雷达参数综合测量系统能够提高雷达参数测量的准确性和便利性，减小雷达参数测量的误差。

技术领域

本发明属于雷达目标测量领域，涉及目标距离、速度和角度的综合测量雷达系统。

背景技术

不同体制的雷达针对目标的不同参数测量，如测量距离的脉冲雷达、测量速度的多普勒雷达等。在测量目标参数时，需建立准确的坐标系，并确保雷达天线主轴与目标测量坐标系重合。在雷达及目标架设完成后，首先要确定目标相对雷达的真实距离、角度等参数，以供后续验证雷达测量误差。对于静止目标，参数测量相对简单。对于运动目标，一般难以保持匀速运动，测速精度验证有困难，若同时进行角度测量，则目标轨迹难以有效控制，测角精度验证同样存在难度。此外，随着测量次数的增加、目标状态的变化，目标真实参数需要不断标定，测量将变得异常繁琐。但是目前文献中对于雷达参数测量的实验方法介绍很少，尤其是运动目标速度和角度的测量，因此有必要提出一种雷达参数综合测量系统，以适应多种雷达参数的测量。

本发明提出了一种雷达参数综合测量系统，适应多种雷达参数的测量，能够有效地保证目标真实参数的准确性，进而降低目标参数测量的误差。

发明内容

本发明的目的在于提供一种雷达参数综合测量系统，其特征在于，包括：

滑台3，所述滑台3上表面设置有导轨；

滑台支架2，所述滑台支架2沿所述导轨移动；所述滑台支架2上安装有反射器1；

雷达7以及雷达支架8；以及定标体5；

优选地，所述滑台3还设置有滑台底部滑轮6，用于便捷移动滑台3位置。

优选地，所述滑台3设置有控制线4，与上位机相连，用于控制滑台支架2的移动。

本发明还提供了一种雷达参数综合测量系统的测量方法，其特征在于，包括步骤：

步骤1：搭建雷达参数综合测量系统；

步骤2：雷达天线指向校准；

步骤3：根据不同参数测量需求驱动滑台使滑台支架2运动，并记录滑台支架2运动速度、运动时间、相对滑台3起点的位置等信息，同时记录雷达测量目标参数的结果；

步骤4：比较步骤3中的滑台支架2信息以及雷达测量结果，即可计算目标参数测量精度。

优选地，所述步骤1中，记录雷达7、雷达支架8、定标体5、滑台3、滑台支架2、反射器1的坐标信息。

优选地，所述步骤2中，在空间中选择第一条线即中轴线和第二条线即标记线，在所述第一条线上放置定标体5，在所述第二条线上放置滑台3。

优选地，测量综合测量系统中轴线上的定标体5角度若定标体5角度小于阈值δ，即则无需校正。否则，当则雷达天线需顺时针转，反之，雷达天线逆时针转。天线固定后，再次测量定标体5角度如此反复调整天线指向，直至|θ_i|δ，则校准完成，且天线主轴方向记为

优选地，角度误差阈值δ需根据测角精度来设置。