[发明专利]一种降低ABS不良品发生率的方法

权利要求书

1.一种降低ABS不良品发生率的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：

步骤1、称取ABS树脂样品1kg-10kg放入料斗，再将ABS树脂样品由双螺杆挤出机挤出，得到ABS熔融片状物料；设定双螺杆挤出机各段螺筒加热温度参数：一段170-300℃，二段170-270℃，三段130-280℃，四段170-270℃，五段130-270℃，螺杆挤出转数参数在0-140r/min；

步骤2、设置牵引辊加热温度、模头出口缝隙与牵引辊最外侧间隔、牵引辊速率，风刀出风角度、风量压力，采用风刀对准ABS熔融片状物料，ABS熔融片状物料通过牵引辊牵引形成ABS薄膜，保证出膜固定厚度在10微米到100微米之间；设置牵引辊加热温度为30-100℃，模头出口缝隙为0.5-10mm，牵引辊最外侧间隔为0.5-10mm，牵引辊速率为0-45m/min，风刀出风角度为0-70°，风量压力为0-2mpa；

步骤3、ABS薄膜从晶点扫描仪的发射可见光源设备和接收光源设备之间纵向通过，通过晶点扫描仪内嵌的晶点扫描光学处理统计软件计算透射光强度，通过入射光、反射光对ABS薄膜折射角度变化程度，经过数据处理模拟生成检测晶点的数码画面，通过微积分计算单位圆面积，然后晶点扫描光学处理统计软件自动记录单位圆面积的晶点尺寸等级数量；连续测量1-8次，数据取平均值；

步骤4、制定晶点要求，即确定ABS样品的晶点尺寸等级以及每个尺寸等级下的不同晶点尺寸数量，重复步骤1至步骤3，得到不同晶点尺寸等级下的不同晶点尺寸数量的2-10组ABS样品，下游加工厂对每组ABS样品进行测评，采用成型工艺将ABS样品做成ABS成品2-100件，观察每组ABS成品是否满足晶点要求，最后确定每组产品的不良产品率；ABS样品的晶点尺寸等级即单位圆半径，半径100μm单位圆面积内晶点数在200～1000个之间，半径100μm～200μm之间的单位圆面积内的晶点数在200～1000个之间，200μm～300μm晶点数在10～500个之间，300μm～400μm晶点数在10～300个之间，400μm～500μm晶点数在10～200个之间，500μm～600μm晶点数在1～50个之间，600μm～700μm晶点数在1～50个之间，700μm～800μm晶点数在1～20个之间，800μm晶点数在1～20个之间；

步骤5、选择不良品率最小的一组ABS样品，其晶点尺寸等级和对应的晶点数量确定为晶点控制指标；

步骤6、在ABS生产装置过滤器压差10-300kpa范围内，每间隔10-30kpa压差取样1-10次，通过步骤1至步骤3测试单位圆面积内晶点尺寸等级数量，绘制不同单位圆面积的晶点尺寸等级数量与过滤器压差的关系曲线，然后对比晶点控制指标，选取曲线最低点对应的过滤器压差为最佳过滤器压差值，并确定最佳压差范围；当本体ABS生产装置过滤器压差超过300kpa时，更换一次过滤器滤网。

2.如权利要求1所述的降低ABS不良品发生率的方法，其特征在于，所述步骤4中，成型工艺为注塑成型、挤塑成型、吹塑成型、旋转成型、吸塑成型、模压成型、压延成型、层压成型、冷压成型、热成型中的一种或多种。