[发明专利]一种提高PCB背钻钻深精度的方法有效

专利信息
申请号: 202011453503.6 申请日: 2020-12-11
公开(公告)号: CN112770508B 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 冯涛;李超谋;曾福林;胡伦洪;向参军 申请(专利权)人: 广州广合科技股份有限公司
主分类号: H05K3/00 分类号: H05K3/00
代理公司: 广州市时代知识产权代理事务所(普通合伙) 44438 代理人: 杨树民
地址: 510730 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 pcb 背钻钻深 精度 方法
【说明书】:

本发明公开了一种提高PCB背钻钻深精度的方法,包括每块PCB板上设有二维码,每个二维码具有独有的编码;识别PCB板上的二维码,测量PCB板厚,将测量PCB板厚数据反馈给存储单元;将获得的PCB板厚数据依据理论背钻深度对PCB板进行类型分类;计算出不同类PCB板的补偿值,生成不同类产品的背钻生产参数;自动调取数据库中对应二维码存储的背钻生产参数进行背钻生产。本发明提供了一种提高PCB背钻钻深精度的方法,该方法通过激光测量技术全面扫描测量PCB板厚数据,全覆盖板厚测量,克服PCB板厚不均匀的问题,从而提高PCB背钻钻深精度;该方法可以覆盖所有产品,降低产品波动带来的品质风险,且操作要求低,机械化程度高,操作效率高,操作简单。

技术领域

本发明涉及PCB钻孔加工技术领域,具体涉及一种提高PCB背钻钻深精度的方法。

背景技术

背钻钻深是指背钻加工中,背钻刀钻入PTH孔内的深度。背钻钻深精度是指钻深目标与实际钻深之间的差异。目前评价背钻深度是否合格的手段,主要采用的是(破坏性测试)微切片,用100倍或者200倍显微镜进行垂直测量,评价的标准是背钻后的残樁,一般要求在25um-200um之间,钻深精度要求极高。影响背钻钻深精度主要有两大影响因素,分别为设备钻深精度和PCB板厚均匀性,设备钻深精度通过控深钻,精度可达到±25um;PCB板厚均匀性因为PCB图形设计和PCB背钻加工前的制程影响,板厚均匀性只能达到±200um,所以对背钻钻深精度影响最大的为PCB板厚均匀性。目前应对PCB板厚均匀性的方法是采用人工抽测任意一部分板的背钻位置的板厚,分区域进行补偿控深背钻,操作复杂,背钻的效率低,此外背钻钻深品质是采用破坏性测试,才能确认是否合格,正常产品是无法全部测量的,背钻品质还存在较大风险。中国专利申请号CN201510396189.5公开了一种背钻方法,该方法对每一个实际的背钻孔位置的板厚进行测量;通过两面测量取最小值的方式得到更精确的板厚数据;且这样的背钻方法可以克服板翘、板弯及板厚不均的问题,从而实现高精度背钻的要求,但是该方法只是针对背钻孔位置的板厚进行测量,无法对PCB全面板厚测量,还要分别计算除了背钻面外的每个背钻孔的位置高度H1、背钻孔对应于垫板位置的高度H2、测量背钻面的每个背钻孔对应于垫板位置的高度H4、测量背钻面的背钻孔的高度H3,操作复杂。

发明内容

本发明的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种提高PCB背钻钻深精度的方法,解决现有技术中存在操作复杂、背钻效率低和品质风险高的问题。

本发明的目的通过以下技术方案实现:一种提高PCB背钻钻深精度的方法,包括,

每块PCB板上设有二维码,每个二维码具有独有的编码;

识别PCB板上的二维码,测量PCB板厚,将测量PCB板厚数据反馈给存储单元;

将获得的PCB板厚数据依据理论背钻深度对PCB板进行类型分类;

计算出不同类PCB板的补偿值,生成不同类产品的背钻生产参数;

自动调取数据库中对应二维码存储的背钻生产参数进行背钻生产。

进一步地,所述测量PCB板厚,将测量PCB板厚数据反馈给存储单元包括:

通过测量单元实时测量PCB板厚;

将测量PCB板厚数据反馈给存储单元,存储单元建立数据库进行高密度定位存储。

进一步地,所述测量单元包括激光测厚扫描仪和编码识别器,所述编码识别器用来识别PCB板上的二维码,所述激光测厚扫描仪用于测量PCB板厚。

进一步地,所述通过测量单元实时测量PCB板厚具体步骤为:对测量PCB板的测量单元台面进行清洁,保证台面上无杂物,防止影响测量的板厚数据,然后将PCB板置于测量单元台面上,进行测量PCB板厚。

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