[发明专利]闪存数据保存分析方法、装置、可读存储介质及电子设备

权利要求书

1.一种闪存数据保存分析方法，其特征在于，包括步骤：

从待分析的闪存设备中随机选取待分析的读重试的逻辑地址集合，将所述逻辑地址集合随机划分为多个逻辑地址子集合；

对每一个逻辑地址子集合进行数据分析，得到每一个逻辑地址子集合对应的数据分析结果，不同逻辑地址子集合采用的数据分析方法不同；

根据得到的所有数据分析结果确定所述待分析的闪存设备的数据保存问题的分析结果；

所述采用的数据分析方法包括以下中的任一种：

依次读取选取的逻辑地址子集合中每一逻辑地址对应的块的数据，得到第一数据读取结果，根据所述第一数据读取结果得到对应的数据分析结果；

或，关闭读流程中的读重试和深度读重试功能；

按照预设循环次数依次读取选取的逻辑地址子集合中每一逻辑地址对应的页的数据，得到第二数据读取结果，根据所述第二数据读取结果得到对应的数据分析结果；

或，按照预设次数连续读取选取的逻辑地址子集合中每一逻辑地址对应的页的原始数据，得到第三数据读取结果，根据所述第三数据读取结果得到对应的数据分析结果；

或，绘制选取的逻辑地址子集合中每一逻辑地址对应的页的概率密度曲线，并将所述概率密度曲线与同类型的标准概率密度曲线进行比较，根据比较结果得到对应的数据分析结果。

2.根据权利要求1所述的一种闪存数据保存分析方法，其特征在于，所述从待分析的闪存设备中随机选取待分析的读重试的逻辑地址集合中包括：

从待分析的闪存设备中随机选取待分析的读重试的初始逻辑地址集合；

将所述初始逻辑地址集合转换成对应的物理地址集合；

根据所述物理地址集合对所述初始逻辑地址集合进行滤重，筛选得到所述待分析的读重试的逻辑地址集合，所述逻辑地址集合中每一个逻辑地址对应的物理地址不同。

3.根据权利要求1所述的一种闪存数据保存分析方法，其特征在于，所述根据所述第一数据读取结果得到对应的数据分析结果包括：

判断出现读失败的逻辑地址个数是否小于第一预设值，若是，则是数据保存问题，若否，则不是数据保存问题；

所述根据所述第二数据读取结果得到对应的数据分析结果包括：

判断是否大于第二预设值的逻辑地址满足首次循环读失败，后续循环均读成功，若是，则是数据保存问题，若否，则不是数据保存问题；

所述根据所述第三数据读取结果得到对应的数据分析结果包括：

根据每一次的数据读取结果确定不同的相邻次数的读取过程中对应的比特反转数；

判断在所述预设次数连续读取的过程中，靠后的相邻次数的读取过程中对应的比特反转数是否小于第一次和第二次读取过程中对应的比特反转数，若是，则是数据保存问题，若否，则不是数据保存问题；

所述根据比较结果得到对应的数据分析结果包括：

判断是否小于第三预设值的逻辑地址对应的概率密度曲线的波谷比同类型的标准概率密度曲线高，并且波形相较于所述标准概率密度曲线左移，若是，则是数据保存问题，若否，则不是数据保存问题。

4.根据权利要求1所述的一种闪存数据保存分析方法，其特征在于，所述对每一个逻辑地址子集合进行数据分析，得到每一个逻辑地址子集合对应的数据分析结果之后还包括：

修改主控系统的读重试控制策略；

比较读重试控制策略修改前后对应的出现读重试的逻辑地址的个数，根据比较结果得到对应的数据分析结果。

5.根据权利要求4所述的一种闪存数据保存分析方法，其特征在于，所述修改主控系统的读重试控制策略包括：

在读重试之前增加普通读重试流程；

所述普通读重试流程具体为：

对于第一次读失败的逻辑地址，直接执行一次普通的重试读；

所述比较读重试控制策略修改前后对应的出现读重试的逻辑地址的个数，根据比较结果得到对应的数据分析包括：

判断读重试控制策略修改前对应的出现读重试的逻辑地址的个数是否大于读重试控制策略修改后预设时间段后对应的出现读重试的逻辑地址的个数，并且两者差值大于第四预设值，若是，则是数据保存问题，若否，则不是数据保存问题。