[发明专利]采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储器件

说明书

一种方法用于测试包括封装衬底、控制器裸片和存储器裸片的存储器件。封装衬底包括隔离引脚、测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚。所述方法包括：将隔离引脚设置为使存储器裸片与控制器裸片隔离的隔离状态；以及在隔离引脚被设置为隔离状态时，将存储器裸片设置为经由测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚接收控制。

本申请是申请日为2019年10月17日，名称为“采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储器件”，申请号为201980002504.8的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及半导体测试，并且具体而言涉及测试采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用所述方法的存储器件。

背景技术

诸如闪速存储器的非易失性存储器因其具有紧凑的物理尺寸和重复编程能力而广泛地应用于通信和消费电子系统。必须在工厂测试中对非易失性存储器的可靠性进行检验，以确保能够可靠地从非易失性存储器读取数据或者向其中写入数据。在实践中，诸如嵌入式多媒体卡(eMMC)或通用闪存(UFS)的非易失性存储器件可以包含不止一个只能经由诸如存储器控制器的中间电路来间接访问的存储单元。

因此，需要可从外部直接对其存储单元进行访问的存储器件及其测试方法。

发明内容

在一个实施例中，一种存储器件包括封装衬底、控制器裸片和存储器裸片。封装衬底包括隔离引脚、用于切换存储器裸片的操作模式的测试模式选择引脚、用于接收测试时钟的测试时钟引脚、以及用于执行数据传输的测试数据引脚。控制器裸片被设置在封装衬底上并且耦合至隔离引脚。存储器裸片被设置在封装衬底上并且耦合至测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚。在隔离引脚被设置为使存储器裸片与控制器裸片隔离的隔离状态时，存储器裸片被设置为经由测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚接收控制。

在另一实施例中，一种存储器件包括封装衬底、控制器裸片和存储器裸片。封装衬底包括隔离引脚、测试启用引脚、用于切换存储器裸片的操作模式的测试模式选择引脚、用于接收测试时钟的测试时钟引脚以及用于执行数据传输的测试数据引脚。控制器裸片被设置在封装衬底上并且耦合至隔离引脚。存储器裸片被设置在封装衬底上并且耦合至测试启用引脚、测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚。在隔离引脚被设置在使存储器裸片与控制器裸片隔离的隔离状态并且测试启用引脚被设置为测试启用状态时，存储器裸片被设置为经由测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚接收控制。

在又一实施例中，一种方法用于测试包括封装衬底、控制器裸片和存储器裸片的存储器件。封装衬底包括隔离引脚、测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚。所述方法包括：将隔离引脚设置为隔离状态，从而使存储器裸片与控制器裸片隔离；以及在隔离引脚被设置为隔离状态时，将存储器裸片设置为经由测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚接收控制。

对于本领域普通技术人员而言，在阅读了下文对通过各附图例示的优选实施例的详细描述之后，本发明的这些和其他目标无疑将变得显而易见。

附图说明

被并入本文并形成说明书的一部分的附图例示了本公开的实施例并与说明书一起进一步用以解释本公开的原理，并使相关领域的技术人员能够做出和使用本公开。

图1是根据本发明的实施例的存储器件的方框图。

图2是图1中的存储器件的选定信号的时序图。

图3是适用于图1中的存储器件的测试方法的流程图。

图4是根据本发明的实施例的另一存储器件的方框图。

图5是适用于图4中的存储器件的测试方法的流程图。

具体实施方式