[发明专利]一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法

权利要求书

1.一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

S01，将待检测样品置于检测平台，并点亮所述待检测样品；

S02，通过图像采集系统(CCD)获取所述待检测样品的图像信息；

S03，将所述图像信息与基准信息进行对比，获得实际缺陷数据。

2.根据权利要求1所述的一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，其特征在于，还包括步骤S04，将所述实际缺陷数据反馈到记录系统内。

3.根据权利要求1所述的一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，其特征在于，步骤S01中，点亮的所述待检测样品的画面为单色画面。

4.根据权利要求1所述的一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，其特征在于，所述图像采集系统为高精度、高分辨率的图像采集系统，所述图像采集系统的分辨率为2000W像素以上。

5.根据权利要求1所述的一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，其特征在于，步骤S03中的数据对比方法包括一下步骤：

S001，读取基准信息，所述基准信息包括基准像素的面积S_基

S002，将所述基准信息与图像信息进行叠加对比，得到每个像素的对比图案；

S003，根据所述对比图案确定所述图像信息的实际缺陷数据。

6.根据权利要求5所述的一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，其特征在于，步骤S002中的叠加对比方法包括：

S201，获取所述图像信息内每个像素的面积S_实；

S202，根据公式Δ＝S_基-S_实获得像素的缺陷大小；

S203，根据量化公式δ＝Δ/S_基，获得像素的量化值δ。

7.根据权利要求6所述的一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，其特征在于，当像素的量化值δ为正数时，表示所述图像信息大于基准像素尺寸，存在实际像素尺寸超出标准尺寸的缺陷；当像素的量化值δ为负值时，表示所述图像信息小于基准像素尺寸，存在像素缺失的缺陷。

8.根据权利要求2所述的一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，其特征在于，所述实际缺陷数据还包括缺陷像素的坐标、缺陷像素的量化值。