[发明专利]一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法

说明书

本发明为涉及一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，包括以下步骤：将待检测样品置于检测平台，并点亮所述待检测样品；通过图像采集系统(CCD)获取所述待检测样品的图像信息；将所述图像信息与基准信息进行对比，获得实际缺陷数据。有益效果是：可以快速准确的对OLED微型显示器件的像素缺陷进行检测，并能完整记录像素缺陷的形貌，并对像素缺陷的小大进行量化处理，并对像素缺陷的位置进行定位，提高了检测效率，准确性，对OLED微型显示器件的工艺提高具有积极的帮助。

技术领域

本发明涉及像素缺陷检测技术领域，尤其是涉及一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法。

背景技术

OLED是一种通过外加电场驱动载流子在有机材料中的传输和复合，将电能转化成光能的器件，OLED微型显示器具有驱动电压低、发光亮度大、工作温度范围宽(-40～80℃之间)、视角宽、响应速度快、制作工艺简单、成本低等优点，已成为目前最有前途的、新型的平板显示器。

OLED现有成熟的技术是采用精细金属掩模板(Fine Metal Mask，FMM)按标准红绿蓝(以下有时简称为RGB)子像素有序排列蒸镀有机发光材料来制备彩色像素图案。在该方法中，子像素容易产生缺陷，可能发生混色，严重影响显示性能。目前，大多采用光学检测对OLED微型显示器件的像素缺陷进行检测，但是由于云纹现象，缺陷大小、区域、形状不定，且容易受到环境灯光的影响，该方法存在效率较低，量化受限的情况。

本发明提供了一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法及系统，能够通过高精度、高分辨率的图像采集系统(CCD)对样品进行检测，提高了对样品像素缺陷的识别以及量化能力，并能快速准确的定位缺陷位置。

发明内容

本发明提供一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，以解决现有技术中的检测效率低的问题。

本发明所解决的技术问题采用以下技术方案来实现：

一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，包括以下步骤：

S01，将待检测样品置于检测平台，并点亮所述待检测样品；

S02，通过图像采集系统(CCD)获取所述待检测样品的图像信息；

S03，将所述图像信息与基准信息进行对比，获得实际缺陷数据。

还包括步骤S04，将所述实际缺陷数据反馈到记录系统内。

进一步的，步骤S01中，点亮的所述待检测样品的画面为单色画面。

进一步的，所述图像采集系统为高精度、高分辨率的图像采集系统，所述图像采集系统的分辨率为2000W像素以上。

进一步的，步骤S03中的数据对比方法包括一下步骤：

S001，读取基准信息，所述基准信息包括基准像素的面积S_基

S002，将所述基准信息与图像信息进行叠加对比，得到每个像素的对比图案；

S003，根据所述对比图案确定所述图像信息的实际缺陷数据。

进一步的，步骤S002中的叠加对比方法包括：

S201，获取所述图像信息内每个像素的面积S_实；

S202，根据公式Δ＝S_基-S_实获得像素的缺陷大小；

S203，根据量化公式δ＝Δ/S_基，获得像素的量化值δ。