[发明专利]IGCT相模块的测试系统及方法

权利要求书

1.IGCT相模块的测试系统，包括：一个光信号处理模块、一个IGCT相模块、一个信号检测模块、一个高压电源以及一个限流部件；

其中，所述IGCT相模块中包括至少两个IGCT开关模块；

所述信号检测模块、所述高压电源以及所述限流部件串联在所述IGCT相模块的两端；

所述高压电源，用于输出高压电源信号；

所述光信号处理模块，用于连接到所述至少两个IGCT开关模块，向所述至少两个IGCT开关模块中的待测试IGCT开关模块非持续性输出光触发信号，以控制所述待测试IGCT开关模块非持续导通；以及向至少两个IGCT开关模块中的除所述待测试IGCT开关模块之外的其他IGCT开关模块持续输出光触发信号，以控制该其他IGCT开关模块持续导通；

所述信号检测模块，用于进行信号检测，并输出信号检测结果，所述信号检测结果用于得到所述待测试IGCT开关模块的测试结果；其中，所述光信号处理模块以间断式输出光触发信号的方式执行所述的非持续性输出光触发信号，以控制所述待测试IGCT开关模块间断式导通及断开；所述信号检测模块，用于进行信号的高低电平变化的检测，并输出信号的高低电平变化的检测结果；

所述IGCT相模块的测试系统进一步包括：一个第一开关情况分析模块和一个第二开关情况分析模块；

所述第一开关情况分析模块，用于根据所述信号检测模块输出的信号的高低电平变化的检测结果，确定所述信号从高电平变化到低电平所耗用的第一时间长度；判断该第一时间长度是否不大于预设的关断时延，如果是，则确定所述待测试IGCT开关模块的开关情况满足开关要求，否则，确定所述待测试IGCT开关模块的开关情况不满足开关要求；

所述第二开关情况分析模块，用于根据所述信号检测模块输出的信号的高低电平变化的检测结果，确定所述信号从低电平变化到高电平所耗用的第二时间长度；判断该第二时间长度是否不大于预设的导通时延，如果是，则确定所述待测试IGCT开关模块的开关情况满足开关要求，否则，确定所述待测试IGCT开关模块的开关情况不满足开关要求。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述信号检测模块包括：钳形电流表；

所述钳形电流表对电流信号进行检测，并输出电流信号的检测结果。

3.根据权利要求1所述的系统，其中，所述信号检测模块包括：第一电阻和并联在该第一电阻两端的电压测试单元；所述第一电阻的阻值小于预定值；

所述电压测试单元用于对所述第一电阻两端的电压信号进行检测，并输出电压信号的检测结果。

4.根据权利要求1至3中任一所述的系统，其中，所述限流部件满足下述关系式：

其中，R用于表征所述限流部件的输出电阻，U用于表征所述待测试IGCT开关模块的额定电压，P用于表征所述高压电源的额定输出功率。

5.根据权利要求4所述的系统，其中，所述限流部件包括：依次串联的四个第二电阻。