[发明专利]IGCT相模块的测试系统及方法

说明书

本发明提供了IGCT相模块的测试系统及方法，该IGCT相模块的测试系统包括：光信号处理模块、IGCT相模块、信号检测模块、高压电源以及限流部件；信号检测模块、高压电源以及限流部件串联在IGCT相模块的两端；高压电源，用于输出高压电源信号；光信号处理模块，用于连接到至少两个IGCT开关模块，向至少两个IGCT开关模块中的待测试IGCT开关模块非持续性输出光触发信号，以控制待测试IGCT开关模块非持续导通；以及向至少两个IGCT开关模块中的除待测试IGCT开关模块之外的其他IGCT开关模块持续输出光触发信号，以控制该其他IGCT开关模块持续导通；信号检测模块，用于进行信号检测，并输出信号检测结果。本发明能够测试IGCT相模块在高压条件工作时能否满足业务要求。

技术领域

本发明涉及电力电子技术领域，特别涉及集成门极换流晶闸管(integrated GateCommutated Thyristors，IGCT)相模块的测试系统及方法。

背景技术

IGCT相模块是逆变器的重要组成部分，一旦出现故障，影响较大。IGCT相模块需要工作在高压环境下，因此，需要测试IGCT相模块在高压条件下的工作情况。

在对IGCT相模块进行测试时，通常是在IGCT相模块的两端，接上高压电源，然后通过人工查看IGCT相模块中的元器件是否存在物理损坏情况。

可见，目前只能测试在高压条件下，IGCT相模块中的元器件是否存在物理损坏，而无法测试IGCT相模块在高压条件下工作时能否满足业务要求。

发明内容

本发明提供了IGCT相模块的测试系统及方法，能够测试IGCT相模块在高压条件工作时能否满足业务要求。

第一方面，本发明实施例提供了一种IGCT相模块的测试系统，包括：一个光信号处理模块、一个IGCT相模块、一个信号检测模块、一个高压电源以及一个限流部件；

其中，所述IGCT相模块中包括至少两个IGCT开关模块；

所述信号检测模块、所述高压电源以及所述限流部件串联在所述IGCT相模块的两端；

所述高压电源，用于输出高压电源信号；

所述光信号处理模块，用于连接到所述至少两个IGCT开关模块，向所述至少两个IGCT开关模块中的待测试IGCT开关模块非持续性输出光触发信号，以控制所述待测试IGCT开关模块非持续导通；以及向至少两个IGCT开关模块中的除所述待测试IGCT开关模块之外的其他IGCT开关模块持续输出光触发信号，以控制该其他IGCT开关模块持续导通；

所述信号检测模块，用于进行信号检测，并输出信号检测结果，所述信号检测结果用于得到所述待测试IGCT开关模块的测试结果。

优选地，所述光信号处理模块以间断式输出光触发信号的方式执行所述的非持续性输出光触发信号，以控制所述待测试IGCT开关模块间断式导通及断开；

所述信号检测模块，用于进行信号的高低电平变化的检测，并输出信号的高低电平变化的检测结果。

优选地，进一步包括：一个第一开关情况分析模块；

所述第一开关情况分析模块，用于根据所述信号检测模块输出的信号的高低电平变化的检测结果，确定所述信号从高电平变化到低电平所耗用的第一时间长度；判断该第一时间长度是否不大于预设的关断时延，如果是，则确定所述待测试IGCT开关模块的开关情况满足开关要求，否则，确定所述待测试IGCT开关模块的开关情况不满足开关要求。

优选地，进一步包括：一个第二开关情况分析模块；