[发明专利]复介电常数测量方法、射频器件、集成电路及无线电器件

权利要求书

1.一种用于测试复介电常数的天线结构，其特征在于，包括：

依次叠置的天线层、介质层和金属地层；

设置在所述天线层中的辐射单元；

与所述辐射单元连接的馈线；以及

设置在所述馈线上或者临近所述馈线设置的谐振结构；

其中，所述辐射单元用于辐射无线电信号，以基于所述无线电信号在预设频段范围的极值增益得到所述谐振结构的实测谐振频率；以及

基于所述实测谐振频率和所述极值增益可得到所述介质层的复介电常数。

2.根据权利要求1所述的天线结构，其特征在于，所述谐振结构自身构成电感结构，所述谐振结构与所述馈线构成电容结构。

3.根据权利要求1或2所述的天线结构，其特征在于，所述谐振结构的形状为圆环形、椭圆环形或多边环形。

4.一种天线结构中介质层的复介电常数测量方法，其特征在于，所述天线结构为权利要求1-3中任一项所述的天线结构；

所述复介电常数测量方法包括：

获取在预设频段范围内所述天线结构所辐射无线电信号的极值增益，以及该极值增益所对应所述无线电信号的频率；以及

基于所述极值增益和该极值增益所对应所述无线电信号的频率得到所述介质层的复介电常数。

5.根据权利要求4所述的复介电常数测量方法，其特征在于，还包括：

预置参考数据库；以及

基于所述极值增益和该极值增益所对应所述无线电信号的频率从所述参考数据库中获取所述介质层的复介电常数；

其中，所述参考数据库包括所述复介电常数与信号频率和信号增益对应的多组数据。

6.根据权利要求5所述的复介电常数测量方法，其特征在于，所述复介电常数包括介电常数和损耗正切；所述参考数据库包括第一数据对和第二数据对，所述第一数据对包括所述介电常数与对应的信号频率，所述第二数据对包括各所述信号频率下所述损耗正切与对应的信号增益；

其中，所述基于所述极值增益和该极值增益所对应所述无线电信号的频率从所述参考数据库中获取所述介质层的复介电常数，包括：

基于所述极值增益和所述第一数据对获取所述介电常数；

基于所述极值增益所对应所述无线电信号的频率和所述第二数据对获取所述损耗正切。

7.根据权利要求5所述的复介电常数测量方法，其特征在于，还包括：

基于仿真数据获取所述参考数据库。

8.一种射频器件，其特征在于，包括：

高频介质；以及

基于所述高频介质的复介电常数设计的射频结构，设置在所述高频介质上；

其中，基于如权利要求4-7中任一项所述的复介电常数测量方法得到所述高频介质的复介电常数。

9.根据权利要求8所述的射频器件，其特征在于，所述射频结构包括：

天线，用于辐射无线电信号；以及

馈线，与所述天线电连接。

10.根据权利要求9所述的射频器件，其特征在于，所述射频结构还包括：

用于滤波的谐振结构，设置在所述馈线上或者临近所述馈线设置的谐振结构；

其中，所述谐振结构设置在所述馈线上时，所述谐振结构的谐振频率与所述射频器件所发射无线电信号的中心频率一致；以及

所述谐振结构临近所述馈线设置时，所述谐振结构的谐振频率与所述射频器件所发射无线电信号的中心频率相异。

11.一种集成电路，其特征在于，包括：

如权利要求8-10中任一项所述的射频器件，用于收发无线电信号；以及

信号处理模块，用于对所接收的无线电信号进行信号处理，以实现通信和/或目标检测。

12.根据权利要求11所述的集成电路，其特征在于，所述集成电路为毫米波雷达芯片。