[发明专利]复介电常数测量方法、射频器件、集成电路及无线电器件

说明书

本申请实施例公开了一种复介电常数测量方法、射频器件、集成电路及无线电器件。用于测试复介电常数的天线结构包括：依次叠置的天线层、介质层和金属地层；设置在天线层中的辐射单元；与辐射单元连接的馈线；以及设置在馈线上或者临近馈线设置的谐振结构；其中，辐射单元用于辐射无线电信号，以基于无线电信号在预设频段范围的极值增益得到谐振结构的实测谐振频率；以及基于实测谐振频率和极值增益可得到介质层的复介电常数。本申请实施例提供的复介电常数测量方法，操作简单，效果直观，精度较高。

技术领域

本申请实施例涉及电子技术领域，尤其涉及一种复介电常数测量方法、射频器件、集成电路及无线电器件。

背景技术

高频介质作为重要的电磁波传输媒质，被广泛的应用于各种高频电路、天线等各个领域设计、中。高频介质材料的电磁参数一般指复介电常数和复磁导率，通常以复数的形式表示。实际天线设计中，复介电常数往往采用介电常数和损耗正切两个参数来衡量。不同厂家或者同一厂家不同批次的微波介质的复介电常数往往存在差异，影响产品的设计、调试和生产。因此快速精确得测量微波介质的复介电常数对于射频天线的设计至关重要。

发明内容

本申请实施例提供一种复介电常数测量方法、射频器件、集成电路及无线电器件，以实现快速精确得测量微波介质的复介电常数的效果。

本申请实施例提供了一种用于测试复介电常数的天线结构，所述天线结构包括：

依次叠置的天线层、介质层和金属地层；

设置在所述天线层中的辐射单元；

与所述辐射单元连接的馈线；以及

设置在所述馈线上或者临近所述馈线设置的谐振结构；

其中，所述辐射单元用于辐射无线电信号，以基于所述无线电信号在预设频段范围的极值增益得到所述谐振结构的实测谐振频率；以及

基于所述实测谐振频率和所述极值增益可得到所述介质层的复介电常数。

本申请实施例提供的用于测试复介电常数的天线结构，通过在其内设置谐振结构，且通过辐射单元辐射的无线电信号在预设频段范围内的极值增益得到该谐振结构的实测谐振频率，进而基于实测谐振频率和极值增益可得到介质层的复介电常数，即通过该天线结构即可确定介质层的复介电常数，操作简单，效果直观，精度较高。

在一个可选的实施例中，所述谐振结构自身构成电感结构，所述谐振结构与所述馈线构成电容结构。

在一个可选的实施例中，所述谐振结构的形状可为圆环形、椭圆环形或多边环形等。

可以理解的是，谐振结构的形状包括但不限于上述示例，本领域技术人员可以根据实际情况设置谐振结构的形状。

本申请实施例还提供了一种天线结构中介质层的复介电常数测量方法，所述天线结构中设置有谐振结构，所述复介电常数测量方法包括：

获取在预设频段范围内所述天线结构所辐射无线电信号的极值增益，以及该极值增益所对应所述无线电信号的频率；以及

基于所述极值增益和该极值增益所对应所述无线电信号的频率得到所述介质层的复介电常数。

本申请实施例提供的天线结构中介质层的复介电常数测量方法，通过在天线结构内设置谐振结构，基于该谐振结构获取在预设频段范围内天线结构所辐射无线电信号的极值增益，以及该极值增益所对应无线电信号的频率，进而基于该极值增益和该极值增益所对应所述无线电信号的频率得到介质层的复介电常数，操作简单，效果直观，精度较高。

在一个可选的实施例中，还包括：

预置参考数据库；以及