[发明专利]一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCIExpressIP核量产测试优化方法

权利要求书

1.一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCI Express IP核量产测试优化方法，其特征在于，包括步骤如下：

步骤1：产生FPGA内嵌PCI Express IP核测试需要的测试向量集；

步骤2：使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算；

步骤3：由步骤2得到测试向量集中节点覆盖率最高的单测试向量；

步骤4：使用测试向量集排序算法和步骤3得到的节点覆盖率最高的单测试向量，对原测试向量集进行排序优化，完成对测试向量集的优化。

2.根据权利要求1所述的一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCI Express IP核量产测试优化方法，其特征在于：步骤2的具体步骤如下：

步骤21：创建包括所有测试向量文件的源文件序列，并定义整数N的初值N＝0，以及测试向量的总数M；

步骤22：对于源文件序列[N]中的测试向量文件进行功能仿真,并生成VCD数字格式文件；

步骤23：创建包括所有测试向量文件节点覆盖率的覆盖率序列；

步骤24：统计源文件序列[N]生成的VCD数字格式文件中存在0/1翻转变化的节点数目，计算得到对应的节点覆盖率，并添加至覆盖率序列[N]；

步骤25：从N＝0开始，对覆盖率序列进行大小排序，排序的规则为首先选取N＝0和N＝1两个测试向量，对比两者的覆盖率大小，确定覆盖率大的测试向量后，保留该测试向量，作为与下一个N+1测试向量进行测试覆盖率大小对比的参照向量；

步骤26：判断N是否等于M；若N小于M，则执行N＝N+1，选取下一个测试向量与当前测试覆盖率大的向量进行测试覆盖率比较，若测试向量N+1的覆盖率较大，则将测试向量N+1作为之后测试覆盖率比较的测试向量，若原测试向量的覆盖率大，则仍将原测试项量作为对比向量；若N等于M，则表示覆盖率序列[N]的所有测试向量均已完成对比，将最终保留的测试向量作为测试覆盖率最高的测试向量。

3.根据权利要求1所述的一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCI Express IP核量产测试优化方法，其特征在于：步骤4的具体步骤如下：

步骤41：创建优化向量文件序列，令整数T＝0；

步骤42：将步骤3得到的节点覆盖率最高的单测试向量添加至优化向量文件序列[T]，并删除源文件序列中的该向量文件，令M＝M-1；

步骤43：将优化向量文件序列中的T+1个向量文件分别与源文件序列中的M个向量文件进行组合，共形成M个向量组合；

步骤44：测算每一个向量组合的总节点覆盖率，并通过比较覆盖率大小，得到覆盖率最高的向量组合，将该向量组合更新至优化向量文件序列，并删除源文件序列中的与该向量组合相同的测试向量，令M＝M-1；

步骤45：比较步骤44中向量组合的节点覆盖率是否超过设定的覆盖率目标，若超过，则输出优化向量文件序列；否则，令T＝T+1，执行步骤43。