[发明专利]一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCIExpressIP核量产测试优化方法

说明书

本发明涉及一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCI Express IP核量产测试优化方法，具体步骤如下：步骤1：产生FPGA内嵌PCI Express IP核测试需要的测试向量集；步骤2：使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算；步骤3：由步骤2得到测试向量集中节点覆盖率最高的单测试向量；步骤4：使用测试向量集排序算法基于步骤3得到的单测试向量，对原测试向量集进行排序优化，完成对测试向量集的优化。通过以上步骤，在不降低测试覆盖率的前提下，采用基于覆盖率排序的量产测试优化方法完成对测试向量集的排序优化，可以有效提高测试向量集的测试效率，缩短配置测试时间，降低配置测试成本。

技术领域

本发明涉及一种FPGA内嵌PCI Express IP核量产测试优化方法，属于集成电路技术领域。

背景技术

随着现场可编程逻辑门阵列(即FPGA)的不断发展，FPGA内嵌IP模块的种类和数量也越来越多，对FPGA的测试也带来了更多新的困难和挑战。

近年来，在设计开发FPGA的过程中，其测试费用在总成本中的比重越来越高，对FPGA内部互连线资源和IP核模块的测试时间也占据了总开发时间的绝大部分。特别的，相对于FPGA内部的互连线资源，FPGA内嵌IP核具备更加复杂的内部结构和设计原理，不仅测试难度更高，其测试时间、测试经费也在FPGA的总测试开销中占据了绝大部分。

千万门级FPGA内嵌PCI Express IP核，是在2005年第一次被集成在FPGA器件上，经过十几年的发展，已经是高端FPGA必不可少的IP模块，PCI Express IP核的出现，满足了用户对于高带宽和高数据传输速率的需求。开发针对PCI Express IP核的成熟而有效的测试手段，是高性能FPGA芯片测试工程的重要一环。

由于PCI Express IP核的高复杂性，一般需要上百个测试向量对其进行完备测试(一般认为达到97％以上的覆盖率为完备测试)，由此所需的配置测试总时间将会是分钟级，这对于工程量产测试而言意味着极大的测试成本，所以一般会以牺牲部分测试覆盖率为代价，换取配置测试时间的缩短。

由于测试向量对IP核测试的内容不同，不同测试向量的测试效果也不同，合理安排测试向量集中测试向量的测试顺序，可以有效提高测试集的测试效率，从而在达到较高测试覆盖率的前提下，减少配置向量的使用数量，缩短配置测试总时间。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：为了解决FPGA内嵌PCI Express IP核测试过程中码流配置时间长，测试效率低的问题，本发明提出了一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCIExpress IP核量产测试优化方法。该方法可以有效减少测试向量的数量，在保证一定覆盖率的条件下，缩短FPGA内嵌PCI Express IP核的测试时间。

本发明所采用的技术方案是：一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCI Express IP核量产测试优化方法的具体步骤如下：

步骤1：产生FPGA内嵌PCI Express IP核测试需要的测试向量集；

步骤2：使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算；

步骤3：由步骤2得到测试向量集中节点覆盖率最高的单测试向量；

步骤4：使用测试向量集排序算法基于步骤3得到的节点覆盖率最高的单测试向量，对原测试向量集进行排序优化，完成对测试向量集的优化。

其中，在步骤2中所述的“使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算”，其作法的步骤如下：

步骤21：创建一个包括所有测试向量文件的源文件序列，并定义一个整数N＝0，以及测试向量的总数M；