[发明专利]用于检查大型样本的断层摄影装置在审

专利信息
申请号: 202011480852.7 申请日: 2020-12-15
公开(公告)号: CN112986184A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 刘大源;成治侐;李庸珍 申请(专利权)人: 株式会社湖碧驰
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45;G01N21/17;G01N21/88;G01B9/02
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 金鲜英;张敬强
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 检查 大型 样本 断层 摄影 装置
【权利要求书】:

1.一种断层摄影装置,其特征在于,包括:

两个以上的光干涉断层摄影部(30、40),其在样本(5)的线扫描方向上依次配置并对样本(5)进行断层摄影,并且配置为在所述线扫描方向上使各个光干涉断层摄影部(30、40)的线扫描区域部分地重叠;

驱动部(32、42),其调节各个所述光干涉断层摄影部(30、40)的高度,以使各个光干涉断层摄影部(30、40)从样本(5)的检查面隔开规定距离;以及

样本安装部(50),其安装样本(5),并且用于向不同于线扫描方向的方向移送所安装的样本(5)。

2.根据权利要求1所述的断层摄影装置,其特征在于,

所述样本(5)是不能够由一个光干涉断层摄影部(30、40)检查整体面积的大型检查对象物,并且是具有样本(5)的高度根据样本(5)的位置而不同的三维立体结构的检查对象物。

3.根据权利要求1所述的断层摄影装置,其特征在于,

所述样本安装部(50)包括安装样本(5)的样本固定部(52)和用于向样本(5)的长度方向移送所述样本固定部(52)的移送轨道(54)。

4.根据权利要求1所述的断层摄影装置,其特征在于,

所述光干涉断层摄影部(30、40)包括第一光干涉断层摄影部(30)和第二光干涉断层摄影部(40),第一光干涉断层摄影部(30)的第一线扫描区域(30x)与第二光干涉断层摄影部(40)的第二线扫描区域(40x)在样本(5)的线扫描方向上重叠,但在样本(5)的移送方向上隔开。

5.根据权利要求1所述的断层摄影装置,其特征在于,

所述样本安装部(50)使样本(5)相对于线扫描方向的垂直方向倾斜规定的角度(a)而移动。

6.根据权利要求5所述的断层摄影装置,其特征在于,

所述样本(5)的移动角度(a)为3至45度。

7.根据权利要求1所述的断层摄影装置,其特征在于,

驱动所述光干涉断层摄影部(30、40)的驱动部(32、42)位于光干涉断层摄影部(30、40)的侧面,并且所述断层摄影装置还包括制动部(34、44),该制动部(34、44)在所述驱动部(32、42)的相对侧弹性支撑光干涉断层摄影部(30、40)。

8.根据权利要求7所述的断层摄影装置,其特征在于,

所述制动部(34、44)包括:

制动部外壳(70),其在制动方向上形成有滑动槽(72);

制动轴(74),其插入于所述制动部外壳(70)的滑动槽(72)并在制动方向上滑动移动,并支撑光干涉断层摄影部(30、40);以及

弹性部(76),其插入于所述制动部外壳(70)的滑动槽(72)并弹性支撑所述制动轴(74)。

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