[发明专利]工件缺陷质检方法、装置及系统

权利要求书

1.一种工件缺陷质检方法，其特征在于，所述工件缺陷质检方法包括：

控制相机对工件的各个光学面进行拍照；

对拍照得到的各个图片进行图像预处理；

将预处理后的图片按照预定方式传输至对应的AI模型中进行推理，得到推理结果，所述推理结果包括光学面上存在的缺陷的置信度和像素物理量特征值；

根据每个工件的各个推理结果，筛选出每个工件符合条件的缺陷；

从每个工件筛选出的各个缺陷中选定缺陷优先级最高的缺陷，作为所述工件的最终缺陷判定结果。

2.根据权利要求1所述的工件缺陷质检方法，其特征在于，在所述控制相机对工件的各个光学面进行拍照之前，所述方法还包括：

根据相机所要拍摄的工件的光学面的尺寸，对所述相机设置感兴趣区域；

根据所述感兴趣区域的大小生成预定拍照顺序，其中，对应的感兴趣区域大的光学面的拍照顺序优先于感兴趣区域小的光学面的拍照顺序。

3.根据权利要求1所述的工件缺陷质检方法，其特征在于，在所述控制相机对工件的各个光学面进行拍照之后，且在所述对拍照得到的各个图片进行图像预处理之前，所述方法还包括：

为各个图片添加头部信息，所述头部信息包括对应的工件号以及工件的光学面号。

4.根据权利要求1所述的工件缺陷质检方法，其特征在于，所述对拍照得到的各个图片进行图像预处理，包括：

对各个图片进行寻边切图，保留图片中的有效区域；

对各个切图处理后得到的图片进行预定比例的压缩，得到压缩后的图片。

5.根据权利要求1所述的工件缺陷质检方法，其特征在于，所述像素物理量特征值包含缺陷的长度、宽度、面积、亮度、对比度和梯度。

6.根据权利要求1所述的工件缺陷质检方法，其特征在于，所述根据每个工件的各个推理结果，筛选出每个工件符合条件的缺陷，包括：

对于每个工件，结合所述工件的各个光学面的推理结果，识别出位于多个光学面上的缺陷；

将识别出的缺陷的像素物理量特征值从像素单位转换为毫米单位，得到真实物理量特征值；

筛选出真实物理量特征值大于预定阈值的缺陷。

7.一种工件缺陷质检装置，其特征在于，所述装置包括：

拍照模块，被配置为控制相机对工件的各个光学面进行拍照；

预处理模块，被配置为对所述拍照模块拍照得到的各个图片进行图像预处理；

推理模块，被配置为将所述预处理模块预处理后的图片按照预定方式传输至对应的AI模型中进行推理，得到推理结果，所述推理结果包括光学面上存在的缺陷的置信度和像素物理量特征值；

筛选模块，被配置为根据每个工件的各个推理结果，筛选出每个工件符合条件的缺陷；

缺陷判定模块，被配置为从每个工件筛选出的各个缺陷中选定缺陷优先级最高的缺陷，作为所述工件的最终缺陷判定结果。

8.一种工件缺陷质检系统，其特征在于，所述工件缺陷质检系统包括相机、图像处理服务器，所述相机通过网口与所述图像处理服务器进行数据传输，所述图像处理器服务器包括存储器和处理器，所述存储器中存储有应用程序，所述处理器执行所述应用程序以进行如下操作：

控制相机对工件的各个光学面进行拍照；

对拍照得到的各个图片进行图像预处理；

将预处理后的图片按照预定方式传输至对应的AI模型中进行推理，得到推理结果，所述推理结果包括光学面上存在的缺陷的置信度和像素物理量特征值；

根据每个工件的各个推理结果，筛选出每个工件符合条件的缺陷；

从每个工件筛选出的各个缺陷中选定缺陷优先级最高的缺陷，作为所述工件的最终缺陷判定结果。

9.根据权利要求8所述的工件缺陷质检系统，其特征在于，所述相机为m个，每个相机均通过单独的网口与所述图像处理服务器进行数据传输，每个相机对n个工件的各个光学面进行拍照，所述m为大于0的自然数，所述n为大于0的自然数。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有指令，所述指令由处理器执行，以实现如权利要求1至6任一所述的工件缺陷质检方法。