[发明专利]自动对焦液晶模组微观三维立体检测光学方法有效
申请号: | 202011488969.X | 申请日: | 2020-12-16 |
公开(公告)号: | CN112730449B | 公开(公告)日: | 2023-07-14 |
发明(设计)人: | 李腾腾;苗伟 | 申请(专利权)人: | 上海辛玮智能科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G02F1/13 |
代理公司: | 上海源惟初专利代理事务所(普通合伙) 31512 | 代理人: | 周文会 |
地址: | 200092 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 对焦 液晶 模组 微观 三维立体 检测 光学 方法 | ||
1.一种自动对焦液晶模组微观三维立体检测光学方法,其特征在于,包括以下步骤:
根据成像模块采集图像信息;
根据采集到的图像信息进行三维成像,并形成三维图像信息;
对三维图像信息进行图像的明暗度匹配;
对匹配后的三维图像信息与预存信息进行对比,并获得对比结果;
根据对比结果判断三维图像信息的缺陷位置,并将缺陷位置记录并反馈至终端;
其中,所述根据采集到的图像信息进行三维成像,并形成三维图像信息为特征匹配过程,包括以下步骤:
获取被测物体的多个受损前图像信息,并将所述受损前图像信息预存;
多次获取被测物体的受损后图像信息,
将获得的各受损后信息依次与多个受损前图像信息进行对比;
根据对比结果获得被测物体受损后的表面位移信息和应变分布信息;
根据表面位移信息和应变分布信息判断被测物体是否存在受损,并将受损判断结构进行上报;
其中,所述对三维图像信息进行图像的明暗度匹配包括:
根据三维图像信息的明暗度值与同轴光源对被测物照射得到的明暗度值进行对比;
并根据对比结果二次校验被测物体的受损判断结果的准确性;
其中,所述根据三维图像信息的明暗度值与同轴光源对被测物照射得到的明暗度值进行对比,包括以下步骤:
获取被测物体在受损前和受损后的图像信息的尺寸值;
根据尺寸值求解像素点的图面坐标;
对求解的图面坐标进行投影反解;
根据投影反解的坐标值得到三维坐标值,
对受损前和受损后的三维坐标值进行对比,并得划分异常区域;
对异常区域进行标记,并上报至终端。
2.如权利要求1所述的一种自动对焦液晶模组微观三维立体检测光学方法,其特征在于,成像模块为相机,所述图像信息的成像分辨率和清晰度通过透镜模组获得。
3.如权利要求2所述的一种自动对焦液晶模组微观三维立体检测光学方法,其特征在于,所述透镜模组包括:镜头和物镜,所述镜头和所述物镜用于放大成像物体的成像信息。
4.如权利要求1所述的一种自动对焦液晶模组微观三维立体检测光学方法,其特征在于,所述将获得的各受损后信息依次与多个受损前图像信息进行对比包括以下步骤:
对采集的被测物体的受损前后图像信息分别进行网格划分,并形成多个受损前后网格区域;
获取各受损前的网格区域坐标值和受损后的网格区域坐标值;
在受损前和受损后的各网格区域坐标值中筛选出互相关系数为最大值的;
根据获得的互相关系数为最大值的坐标值得到变形区域的位置信息;
将获得的变形区域的位置信息进行标记,并将位置信息呈现在终端。
5.如权利要求1所述的一种自动对焦液晶模组微观三维立体检测光学方法,其特征在于,所述根据尺寸值求解像素点的图面坐标,包括以下步骤:
根据尺寸值定义包含所有被测物体在受损前和受损后数据点的第一初始多边形和第二初始多边形;
从受损后数据点库中任意选择一个选择点,并将该选择点分别与第一初始多边形和第二初始多边形共同建立初始三角网;
对初始三角网进行迭代计算,并得到受损后的三角网信息。
6.如权利要求5所述的一种自动对焦液晶模组微观三维立体检测光学方法,其特征在于,
对初始三角网进行迭代计算,包括以下步骤:
在受损后数据点库中插入离散采样点,在第一初始三角网中找到包含该离散采样点的三角形;
将包含该离散采样点的三角形与所述离散采样点进行连接,形成三个新的三角形A,
删除包含第一初始三角网中的三角形A,并形成最终的三角网,所述三角网。
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