[发明专利]自动对焦液晶模组微观三维立体检测光学方法

说明书

本发明提供一种自动对焦液晶模组围观三维立体检测光学方法，包括以下步骤：根据成像模块采集图像信息；根据采集到的图像信息进行三维成像，并形成三维图像信息；对三维图像信息进行图像的明暗度匹配；对匹配后的三维图像信息与预存信息进行对比，并获得对比结果；根据对比结果判断三维图像信息的缺陷位置，并将缺陷位置记录并反馈至终端。通过利用成像模块自动对焦实现了多层次拍照一部分清晰一部分模糊不清技术难题，保证采集到的整幅图像各部分均是清晰的；实现了采集到的平面图像中的图像内容是立体呈现的，还原了图像内容的真实形态。实现了从多角度，多场景对图像内容进行分析。从而解决特定缺陷不可检测和误检率高的问题。

技术领域

本发明涉及光学定焦技术领域，特别涉及一种自动对焦液晶模组微 观三维立体检测光学方法。

背景技术

目前，液晶模组特定的检测区域是多层次的，传统方式是通过定焦的方式采图，导致采集的一张图像中一部分是清晰的，一部分是模糊不清的；同时，传统方式采图是通过面阵相机或线扫相机对产品进行拍照采图，采集到的图像均为平面图像，导致需要在立体效果下才能检测到的缺陷无法进行检测。

因此，缺少一种能够对平面图像的缺陷进行采集的方法。

发明内容

本发明提供一种自动对焦液晶模组微 观三维立体检测光学方法，用以实现能够对平面图像的缺陷进行采集的目的。

本发明提供一种自动对焦液晶模组微 观三维立体检测光学方法，包括以下步骤：

根据成像模块采集图像信息；

根据采集到的图像信息进行三维成像，并形成三维图像信息；

对三维图像信息进行图像的明暗度匹配；

对匹配后的三维图像信息与预存信息进行对比，并获得对比结果；

根据对比结果判断三维图像信息的缺陷位置，并将缺陷位置记录并反馈至终端。

优选地，

成像模块为相机，所述图像信息的成像分辨率和清晰度通过透镜模组获得。

优选地，

所述透镜模组包括：镜头和物镜，所述镜头和所述物镜用于放大成像物体的成像信息。

优选地，

所述根据采集到的图像信息进行三维成像，并形成三维图像信息为特征匹配过程，包括以下步骤：

获取被测物体的多个受损前图像信息，并将所述受损前图像信息预存；

多次获取被测物体的受损后图像信息，

将获得的各受损后信息依次与多个受损前图像信息进行对比；

根据对比结果获得被测物体受损后的表面位移信息和应变分布信息；

根据表面位移信息和应变分布信息判断被测物体是否存在受损，并将受损判断结构进行上报。

优选地，

所述对三维图像信息进行图像的明暗度匹配包括：

根据三维图像信息的明暗度值与同轴光源对被测物照射得到的明暗度值进行对比；

并根据对比结果二次校验被测物体的受损判断结果的准确性。

优选地，

所述将获得的各受损后信息依次与多个受损前图像信息进行对比，包括以下步骤：

对采集的被测物体的受损前后图像信息分别进行网格划分，并形成多个受损前后网格区域；

获取各受损前的网格区域坐标值和受损后的网格区域坐标值；