[发明专利]光学同调断层扫描探头

权利要求书

1.一种光学同调断层扫描探头，其特征在于，包含：

管状罩体；

至少一电极，设置于该管状罩体的外表面；

光纤扫描器，设置于该管状罩体内，该光纤扫描器包含光纤以及光学镜，该光学镜设置于该光纤的发光端，且该光学镜的位置对应于该管状罩体的可透光部位；以及

辅助定位元件，设置于该管状罩体，且该辅助定位元件与部分的该可透光部位重叠；

其中，该光纤扫描器发出的光束行进通过该可透光部位以产生断层扫描影像，且该光束的一部分与该辅助定位元件互动而在该断层扫描影像中形成对应该辅助定位元件的特征点。

2.如权利要求1所述的光学同调断层扫描探头，其中该特征点为该断层扫描影像中的暗区，且该光束与该辅助定位元件互动是指该光束被该辅助定位元件遮挡。

3.如权利要求1所述的光学同调断层扫描探头，其中该特征点为该断层扫描影像中的亮区，且该光束与该辅助定位元件互动是指该光束被该辅助定位元件反射。

4.如权利要求1所述的光学同调断层扫描探头，其中该光纤扫描器还包含基座，该光纤设置于该基座，该基座可转动地设置于该管状罩体内而带动该光纤一并转动。

5.如权利要求1所述的光学同调断层扫描探头，其中该光纤扫描器还包含基座，该光纤以可相对于该基座旋转的方式设置于该基座中。

6.如权利要求1所述的光学同调断层扫描探头，其中该辅助定位元件为导线，且该导线与该至少一电极电连接。

7.如权利要求1所述的光学同调断层扫描探头，其中该至少一电极包含设置于该管状罩体的该外表面的环状电极圈。

8.如权利要求1所述的光学同调断层扫描探头，其中该至少一电极设置于该管状罩体的半球状封闭末端，该至少一电极为针尖自该管状罩体的该外表面突出。

9.如权利要求1所述的光学同调断层扫描探头，还包含设置于该管状罩体的该外表面的指示元件，且该指示元件具有方向对应于该辅助定位元件的标记。

10.如权利要求1所述的光学同调断层扫描探头，其中该辅助定位元件的尺寸大于或等于该光纤扫描器的光学分辨率。

11.如权利要求1所述的光学同调断层扫描探头，其中该可透光部位是位于该管状罩体的侧壁，该辅助定位元件位于该管状罩体的该侧壁内，且该光学镜为反射镜。

12.如权利要求11所述的光学同调断层扫描探头，其中该管状罩体具有锥状末端，且该至少一电极设置于该锥状末端。

13.如权利要求1所述的光学同调断层扫描探头，其中该可透光部位是位于该管状罩体的封闭端面，且该光学镜为聚焦透镜。

14.如权利要求1所述的光学同调断层扫描探头，其中该管状罩体包含第一可透光部位以及第二可透光部位，该第一可透光部位位于该管状罩体的侧壁，该第二可透光部位位于该管状罩体的封闭端面，该光学镜为分光镜，其位置对应于该第一可透光部位以及该第二可透光部位。

15.如权利要求14所述的光学同调断层扫描探头，其中该辅助定位元件包含第一定位单元与第二定位单元，该第一定位单元与部分的该第一可透光部位重叠，且该第二定位单元与部分的该第二可透光部位重叠，该光束经由该光学镜分光后发出第一子光束与第二子光束，该第一子光束行进通过该第一可透光部位以产生第一断层扫描影像，该第一子光束中的一部分光线会跟该第一定位单元互动而在该第一断层扫描影像中形成对应该第一定位单元的第一特征点，且该第二子光束行进通过该第二可透光部位以产生第二断层扫描影像，该第二子光束中的一部分光线会跟该第二定位单元互动而在该第二断层扫描影像中形成对应该第二定位单元的第二特征点。