[发明专利]一种芯片FT测试系统以及测试方法

权利要求书

1.一种芯片FT测试系统，包括自动测试设备ATE、待测芯片，所述待测芯片具有测试端口；其特征在于，还包括主机；所述主机存储有芯片测试用的全部测试pattern；所述主机通过所述测试端口传送所述测试pattern给所述待测芯片；所述自动测试设备ATE与所述主机通信连接，所述自动测试设备ATE与所述待测芯片通信连接。

2.一种应用权利要求1的测试系统的芯片FT测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、预先将待测芯片的所有测试pattern烧写到所述主机的内存中；

S2、建立所述主机与所述待测芯片的通信连接；

S3、所述主机接收所述自动测试设备ATE的一个测试指令；

S4、所述主机判断所述测试指令是否实施过测试，如果该测试指令没有实施过测试，则执行下一步；如果实施过测试，则继续执行步骤S3；

S5、所述主机将测试指令所对应的测试pattern通过所述待测芯片的所述测试端口传送至所述待测芯片的内存中；

S6、所述待测芯片开始运行测试pattern以实施测试。

3.根据权利要求2所述的芯片FT测试方法，其特征在于，步骤S2具体包括：所述自动测试设备ATE发送交互指令给所述主机，所述主机初始化所述待测芯片与所述主机交互的测试总线，之后所述主机发送连接命令到所述待测芯片，所述主机收到所述待测芯片的反馈ACK指令后表示主机与待测芯片连接成功。

4.根据权利要求3所述的芯片FT测试方法，其特征在于，步骤S2之后、步骤S3之前，还包括所述主机锁定待测芯片的CPU的步骤；

步骤S5之后、步骤S6之前还包括所述主机释放所述待测芯片的CPU的步骤。

5.根据权利要求3所述的芯片FT测试方法，其特征在于，步骤S3具体包括所述自动测试设备ATE根据芯片FT测试设计的顺序发送一个测试命令给所述主机。

6.根据权利要求5所述的芯片FT测试方法，其特征在于，所述主机预先存储测试指令与测试pattern地址信息以及测试pattern的长度信息的映射，其中测试pattern地址信息指的是主机的内存中存储的地址；所述主机收到测试指令后，对测试指令进行解析，将所述测试指令转换成相应的测试pattern的地址信息及测试pattern长度信息；所述主机根据地址信息、长度信息发送数据给所述待测芯片。

7.根据权利要求2所述的芯片FT测试方法，其特征在于，步骤S6之后还包括：

S7、所述待测芯片运行完测试pattern后将测试结果发送给所述自动测试设备ATE，所述自动测试设备ATE接收到测试结果后，判断测试结果是否合格；

如果测试结果为合格，则自动测试设备ATE判断测试是否完成，如果完成，则表示测试结束，最终的测试结果为通过；如果没有完成，则继续执行步骤S3；

如果测试结果为不合格，则结束测试，最终测试结果为失败。