[发明专利]芯片验证方法、装置、设备、存储介质

权利要求书

1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：

覆盖点建立步骤，基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点，所述两个覆盖点中的仓分别对应于验证环境配置信息和设计行为；

验证覆盖点建立步骤，在所述覆盖组中建立对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性的验证覆盖点；

非法仓建立步骤，在所述验证覆盖点中根据所述验证环境配置信息与对应设计行为之间的相关性建立非法仓；

验证步骤，所述覆盖组采样收集所述覆盖点的功能覆盖率，并通过所述非法仓是否在采样过程中被触发来校验对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性，以验证所述功能是否完备；

所述验证步骤还包括，

通过所述非法仓校验对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性，

若所述相关性失配，则触发所述非法仓，并报告错误，

若未触发所述非法仓，则输出所述功能覆盖率。

2.如权利要求1所述的芯片验证方法，其特征在于，

所述覆盖点包括第一覆盖点和第二覆盖点，所述第一覆盖点对应于所述验证环境配置信息，所述第二覆盖点对应于所述设计行为。

3.如权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，还包括，

对应关系确定步骤，确定所述第一覆盖点中所有仓与所述第二覆盖点中所有仓之间的第一对应关系，根据所述第一对应关系确定所述第一覆盖点中所有仓与所述第二覆盖点中所有仓之间的第二对应关系。

4.如权利要求3所述的芯片验证方法，其特征在于，

所述验证覆盖点根据所述第一覆盖点和所述第二覆盖点建立，

所述非法仓建立步骤包括，在所述验证覆盖点中根据所述第二对应关系建立所述非法仓。

5.如权利要求1所述的芯片验证方法，其特征在于，

所述验证覆盖点同时包含所述验证环境配置信息和所述设计行为。

6.如权利要求5所述的芯片验证方法，其特征在于，

所述验证覆盖点建立步骤还包括，

相关性建立步骤，根据所述验证环境配置信息与所述验证环境配置信息所对应的所述设计行为建立所述验证覆盖点中所述验证环境配置信息和所述设计行为之间的相关性；

所述非法仓建立步骤包括，在所述验证覆盖点中根据所述相关性建立所述非法仓。

7.一种芯片验证装置，其特征在于，包括：

覆盖点建立模块，基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点，所述两个覆盖点中的仓分别对应于验证环境配置信息和设计行为；

验证覆盖点建立模块，在所述覆盖组中建立对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性的验证覆盖点；

非法仓建立模块，在所述验证覆盖点中根据所述验证环境配置信息与对应设计行为之间的相关性建立非法仓；

验证模块，所述覆盖组采样收集所述覆盖点的功能覆盖率，并通过所述非法仓是否在采样过程中被触发来校验对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性，以验证所述功能是否完备；

所述验证模块还用于，

通过所述非法仓校验对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性，

若所述相关性失配，则触发所述非法仓，并报告错误，

若未触发所述非法仓，则输出所述功能覆盖率。

8.如权利要求7所述的芯片验证装置，其特征在于，还包括，

所述覆盖点包括第一覆盖点和第二覆盖点，所述第一覆盖点对应于所述验证环境配置信息，所述第二覆盖点对应于所述设计行为；

对应关系确定模块，确定所述第一覆盖点中所有仓与所述第二覆盖点中所有仓之间的第一对应关系，根据所述第一对应关系确定所述第一覆盖点中所有仓与所述第二覆盖点中所有仓之间的第二对应关系。