[发明专利]芯片验证方法、装置、设备、存储介质

说明书

本公开提供了一种芯片验证方法、装置、设备、存储介质。芯片验证方法，包括：覆盖点建立步骤，基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点；验证覆盖点建立步骤，在所述覆盖组中建立对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性的验证覆盖点；非法仓建立步骤，在所述验证覆盖点中根据所述验证环境配置信息与对应设计行为之间的相关性建立非法仓；验证步骤，所述覆盖组采样收集所述覆盖点的功能覆盖率，并通过所述非法仓是否在采样过程中被触发来校验所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性。本公开可以实现无论是直接通过监控设计行为，还是间接从验证环境配置信息所采样收集到的功能覆盖率结果均可靠。

技术领域

本公开涉及芯片验证领域，尤其涉及一种芯片验证方法、装置、设备、存储介质。

背景技术

针对超大规模、日益复杂的芯片验证要求，功能覆盖率被用于表征整个设计中所有功能点的验证覆盖情况，体现了对设计功能进行验证的完备程度。

功能覆盖率的采样收集可以通过如下两种方法：

1.直接采样设计中的信号组合以表征设计中对应的功能点是否被覆盖。

2.间接采样验证环境中配置信息以表征设计中对应的功能点是否被覆盖。

对于方法1而言，得到的功能覆盖率统计结果真实体现了设计中的功能点是否有被覆盖。然而，这种采样方法无法保证收集到的功能覆盖点如实反映了验证的意图。与此同时，一旦验证环境的缺陷导致检查机制没有对这种测试激励与设计行为之间的失配问题进行报错，那么最终统计得到的功能覆盖率结果将会显示该设计的功能点在验证过程中被覆盖到了，这反而掩盖了验证环境中存在的缺陷，使得问题无法暴露。

对于方法2而言，得到的功能覆盖率统计结果真实体现了验证环境所希望配置的设计功能点是否有被覆盖。然而，这种采样方式无法保证收集到的功能覆盖点如实反映了设计的真实行为。与此同时，一旦验证环境中的检查机制不够完备，使得一些设计上的漏洞没有被查验出来，那么最终统计得到的功能覆盖率结果将会显示该设计的功能点在验证过程中被配置过了，反而掩盖了设计本身的缺陷，使得问题无法暴露。

发明内容

本公开正是为了解决上述课题而完成，其目的在于提供一种基于功能覆盖点中的非法仓构建校验验证环境配置信息与设计行为之间相关性的芯片验证方法、装置、设备、存储介质。

本公开提供该发明内容部分以便以简要的形式介绍构思，这些构思将在后面的具体实施方式部分被详细描述。该发明内容部分并不旨在标识要求保护的技术方案的关键特征或必要特征，也不旨在用于限制所要求的保护的技术方案的范围。

为了解决上述技术问题，本公开实施例提供一种芯片验证方法，采用了如下所述的技术方案，包括：

覆盖点建立步骤，基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点，所述两个覆盖点中的仓分别对应于验证环境配置信息和设计行为；

验证覆盖点建立步骤，在所述覆盖组中建立对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性的验证覆盖点；

非法仓建立步骤，在所述验证覆盖点中根据所述验证环境配置信息与对应设计行为之间的相关性建立非法仓；

验证步骤，所述覆盖组采样收集所述覆盖点的功能覆盖率，并通过所述非法仓是否在采样过程中被触发来校验对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性，以验证所述功能是否完备。

为了解决上述技术问题，本公开实施例还提供一种芯片验证装置，采用了如下所述的技术方案，包括：

覆盖点建立模块，基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点，所述两个覆盖点中的仓分别对应于验证环境配置信息和设计行为；