[发明专利]用于确定工件的两点大小的方法和设备

说明书

本发明提供用于确定工件的两点大小的方法和设备。一方面涉及一种用于确定工件(30)的两点大小的计算机实现的方法，该方法包括以下步骤：接收工件(30)的测量点的集合(50)；基于测量点的集合(50)来确定工件(30)的纵轴(L)；将测量点的集合(50)的至少一部分投影到与纵轴(L)垂直的投影平面中，以获得投影点的集合；以及基于投影点来确定工件(30)的两点大小。

技术领域

本发明涉及测量工件的领域，更特别地涉及用于确定工件的两点大小(two-pointsize)的方法和设备。

背景技术

工件(优选为具有大致圆柱形形状的工件)的两点大小是工件的表面的关于工件的纵轴彼此相对的两点之间的(局部大小)距离。在圆柱形工件的情况下，这两点关于工件的圆柱轴彼此相对。

用于确定两点大小的已知方法需要通过围绕工件的纵轴(例如，圆柱形工件的圆柱轴)并且在沿着纵轴的不同位置周向测量工件而获得的测量数据(例如，测量点)。通过围绕纵轴的一个位置周向测量工件而获得的测量点表示工件的旋转，并且这些测量点大致位于与工件的纵轴垂直的平面中。然而，为了尽可能准确地测量工件，必须测量工件的大量旋转(即，沿着工件的纵轴的不同位置处的旋转)，其中，每次旋转沿着工件的纵轴移位。此外，测量工件要求测量工件的探针必须针对各单次旋转对准，即，在沿着工件的纵轴的新位置处对准。这会导致测量到与旋转一样多的单独测量值，这些测量点不被连续测量。因此，为了获得工件的准确的两点大小，工件的测量是冗长且繁琐的。

发明内容

本发明是鉴于以上而提出的，并且本发明的目的是提供用于确定工件的两点大小的方法和设备，这允许在提供对工件的两点大小的准确确定的同时快速地测量工件。

具体地，本发明在可以快速进行工件的测量的同时允许确定工件的准确的两点大小。

该目的是通过独立权利要求的主题来解决的。在从属权利要求中定义了优选实施例。

本发明的一方面涉及用于确定工件的两点大小的计算机实现的方法，该方法包括以下步骤：

接收工件的测量点的集合；

基于测量点的集合来确定工件的纵轴；

将测量点的集合的至少一部分投影到与纵轴垂直的投影平面中，以获得投影点的集合；以及

基于投影点来确定工件的两点大小。

有利地，该方法允许使用已连续测量到的并且可能不位于与工件的纵轴垂直的平面中的测量点来确定工件的两点大小，这是因为在投影平面中投影了测量点并且基于投影点确定了两点大小。连续测量意味着已利用单个测量捕获了测量点。因此，可以更快地进行工件的测量，同时仍然可以准确地确定两点大小。

优选地，测量点的集合是通过利用测量设备测量工件的表面而获得的。各测量点可以表示工件的表面的测量位置相对于参考位置的三维(3D)位置信息(例如，测量位置的3D坐标)。测量点可以优选地从测量工件的坐标测量设备获得。示例性坐标测量设备可以使用对工件进行采样的探针来获得测量点。探针可被配置为例如利用针尖接触表面以测量工件，或者探针可被配置为无接触地(例如，光学地、基于计算机断层摄影和/或x射线)测量表面。此外，测量设备和/或探针优选在单次扫描中测量工件。也就是说，优选利用单次扫描来捕获测量点。

此外，投影到投影平面中的投影点的集合中的各投影点可以与测量点的集合中的测量点相对应。具体地，投影点的集合中的各投影点可以与测量点的集合中的不同测量点相对应。由于将测量点的集合中的一部分投影到投影平面中，因此投影点的集合中的各投影点可以表示二维(2D)位置信息，例如2D坐标。