[发明专利]结构光测量传感器的标定方法和装置有效
申请号: | 202011516778.X | 申请日: | 2020-12-21 |
公开(公告)号: | CN112710235B | 公开(公告)日: | 2022-08-26 |
发明(设计)人: | 黄秀林 | 申请(专利权)人: | 阿波罗智联(北京)科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人: | 王达佐;马晓亚 |
地址: | 100176 北京市大兴区北京经*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 结构 测量 传感器 标定 方法 装置 | ||
本申请公开了结构光测量传感器的标定方法和装置,涉及智能交通和自动驾驶技术领域,进一步涉及计算机视觉和深度学习技术领域。具体实施方式包括:设定标定板位置,以使待测的结构光测量传感器发出的结构光照射在标定板的侧面上,形成侧面呈现的光线,其中,一个结构光照射在相邻的两个侧面且两个侧面分别呈现一条光线;获取光线的图像,并确定对图像中光线的图像分割结果,作为光线线条,对光线线条进行细化处理,得到细化光线线条;获取结构光照射在的侧面的位姿,基于位姿,确定细化光线线条对应的三维点云;利用三维点云,拟合结构光的平面方程。本申请可以将结构光打在标定板侧面,在有一个或多个结构光的情况下,实现对各个结构光的共同标定。
技术领域
本申请涉及计算机技术领域,具体涉及人工智能技术领域,进一步涉及计算机视觉和深度学习技术领域,尤其涉及结构光测量传感器的标定方法和装置。
背景技术
在利用单目相机或者在一些情况下利用多目相机时,不能很好地捕捉到物体的特点,这时候需要采用结构光进行辅助检测。在相关技术中,我们通常采用结构光测量传感器来发出结构光以进行辅助检测。
在确定被测物体的三维点云之前,需要标定每个结构光的平面方程。通常来说,会采用标定板的正面进行标定,也即将结构光打在标定板的正面。标定板的正面通常具有均匀分割的像素格,根据结构光对应的像素格的位置,可以得到结构光的平面方程。
发明内容
提供了一种结构光测量传感器的标定方法、装置、电子设备以及存储介质。
根据第一方面,提供了一种结构光测量传感器的标定方法,包括:设定标定板位置,以使待测的结构光测量传感器发出的结构光照射在标定板的侧面上,形成所述侧面呈现的光线,其中,一个结构光照射在相邻的两个侧面且所述两个侧面分别呈现一条光线;获取所述光线的图像,并确定对所述图像中所述光线的图像分割结果,作为光线线条,对所述光线线条进行细化处理,得到细化光线线条;获取所述结构光照射在的侧面的位姿,基于所述位姿,确定所述细化光线线条对应的三维点云;利用所述三维点云,拟合所述结构光的平面方程。
根据第二方面,提供了一种结构光测量传感器的标定装置,包括:设定单元,被配置成设定标定板位置,以使待测的结构光测量传感器发出的结构光照射在标定板的侧面上,形成所述侧面呈现的光线,其中,一个结构光照射在相邻的两个侧面且所述两个侧面分别呈现一条光线;获取单元,被配置成获取所述光线的图像,并确定对所述图像中所述光线的图像分割结果,作为光线线条,对所述光线线条进行细化处理,得到细化光线线条;确定单元,被配置成获取所述结构光照射在的侧面的位姿,基于所述位姿,确定所述细化光线线条对应的三维点云;拟合单元,被配置成利用所述三维点云,拟合所述结构光的平面方程。
根据第三方面,提供了一种电子设备,包括:一个或多个处理器;存储装置,用于存储一个或多个程序,当一个或多个程序被一个或多个处理器执行,使得一个或多个处理器实现如结构光测量传感器的标定方法中任一实施例的方法。
根据第四方面,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现如结构光测量传感器的标定方法中任一实施例的方法。
根据第五方面,提供了一种计算机程序产品,包括计算机程序,所述计算机程序在被处理器执行时实现根据结构光测量传感器的标定方法中任一实施例的方法。
根据本申请的方案,可以将结构光打在标定板侧面,在有一个或多个结构光的情况下,实现对各个结构光的共同标定。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述,本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
图1是本申请一些实施例可以应用于其中的示例性系统架构图;
图2是根据本申请的结构光测量传感器的标定方法的一个实施例的流程图;
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