[发明专利]一种多功能测试工装结构和方法

权利要求书

1.一种多功能测试工装结构，其特征在于，包括：

单片机；

电源电路；

多个测试电路；

通讯电路；

存储电路；

驱动电路；

其中所述电源电路、测试电路、通讯电路、存储电路和驱动电路分别连接所述单片机，电源电路连接变压器电源和DCDC电源，用于对测试工装结构供电，所述驱动电路连接多个指示器，指示器路用于发出指示信息，存储电路存储测试参数，通讯电路连接上位机，用于向上位机发送测试信息。

2.根据权利要求1所述的一种多功能测试工装结构，其特征在于，所述多功能测试工装结构具有一拨码开关，所述拨码开关具有4个码位，所述拨码开关连接多个测试电路，用于调节测试模式。

3.根据权利要求2所述的一种多功能测试工装结构，其特征在于，所述测试电路包括Flash测试电路，所述Flash测试电路连接所述拨码开关，所述Flash测试电路用于测试电子元件的Flash波形，并向所述单片机发送待测试的Flash波形。

4.根据权利要求2所述的一种多功能测试工装结构，其特征在于，所述测试电路包括EEPROM测试电路，所述EEPROM测试电路连接所述拨码开关，所述EEPROM测试电路用于测试EEPROM通讯波形，并通过所述拨码开关设置EEPROM擦写次数操作模式。

5.根据权利要求2所述的一种多功能测试工装结构，其特征在于，所述测试电路包括红外光电管测试电路，该红外光电管测试电路连接所述拨码开关，通过拨码开关用于设置测试脉冲电流光电管寿命。

6.根据权利要求2所述的一种多功能测试工装结构，其特征在于，所述测试电路包括继电器拉合闸测试电路，所述继电器拉合闸测试电路连接所述拨码开关，通过拨码开关可设置继电器驱动脉宽测试。

7.一种多功能测试工装测试方法，所述方法基于上述权利要求3所述的一种多功能测试工装结构，其特征在于，包括如下步骤：

拨动拨码开关至Flash波形测试模式；

通过上位机设置单片机最大通讯速率；

单片机通过连读的方式读取Flash波形；

驱动电路连接指示灯，当Flash波形正常读取时指示灯常亮。

8.一种多功能测试工装测试方法，所述方法基于上述权利要求4所述的一种多功能测试工装结构，其特征在于，包括如下步骤：

拨动拨码开关至EEPROM波形测试模式；

单片机通过连读的方式读取EEPROM，获取EEPROM通讯波形；

设置时钟信号通讯速率为400kHz

驱动电路连接蜂鸣器，判断是否读取EEPROM成功，若成功则指示灯常亮，若失败则蜂鸣器鸣叫，指示灯闪烁。

9.一种多功能测试工装测试方法，所述方法基于上述权利要求4所述的一种多功能测试工装结构，其特征在于，包括如下步骤：

拨动拨码开关至EEPROM擦写次数操作模式；

单片机选取每个EEPROM中的四页进行测试，其中两页进行页写，另两页进行字节读写，四页读写完时，擦写次数加1；

设置上传次数阈值，EEPROM擦写次数每隔所述上传次数阈值则上传擦写结果；

将所述擦写结果保存于铁电电路中。

10.一种多功能测试工装测试方法，所述方法基于上述权利要求3所述的一种多功能测试工装结构，其特征在于，包括如下步骤：

拨动拨码开关至至Flash擦写次数操作模式；

单片机选取每个Flash存储器中的四页进行测试，其中两页进行页写，另两页进行字节读写，四页读写完时，擦写次数加1；

设置上传次数阈值,Flash擦写次数每隔所述上传次数阈值则上传擦写结果；

将所述擦写结果保存于铁电电路中。