[发明专利]一种多功能测试工装结构和方法

说明书

本发明公开了一种多功能测试工装结构和方法，所述结构包括：单片机；电源电路；多个测试电路；通讯电路；存储电路；驱动电路；其中所述电源电路、测试电路、通讯电路、存储电路和驱动电路分别连接所述单片机，电源电路连接变压器电源和DCDC电源，用于对测试工装结构供电，所述驱动电路连接多个指示器，指示器路用于发出指示信息，存储电路存储测试参数，通讯电路连接上位机，用于向上位机发送测试信息。所述结构和方法采用集成化的电路设计，使得多个元器件的多个参数都可以在一个电路结构上实现，无需增加测试元件，可提高元件测试的效率，减少测试的成本。

技术领域

本发明涉及一种电路领域，特别涉及一种多功能测试工装结构和方法。

背景技术

目前现有的元器件测试设备中，一般只能通过厂家配套设备，配合原厂的上位机软件或者代码，进行测试。通过程序的编写或者设置，出一套方案后将待测物料放置于设备上进行测试。且现有的设备不能测试不同厂家的元器件，局限性大。现有技术上的不通用导致使用者需购入不同的设备进行调试。也就是说，现有技术方案中，用户测试工装的效率交底，并且测试的成本较大。

发明内容

本发明其中一个发明目的在于提供一种多功能测试工装结构和方法，所述结构和方法采用集成化的电路设计，使得多个元器件的多个参数都可以在一个电路结构上实现，无需增加测试元件，可提高元件测试的效率，减少测试的成本。

本发明另一个发明目的在于提供一种多功能测试工装结构和方法，所述结构和方法多个测试电路通过耦接的方式集成于一个单片机的电路上，因此可减少检测电路的面积。

本发明另一个发明目的在于提供一种多功能测试工装结构和方法，所述结构和方法具有一个拨码开关，通过打开不同拨码开关上的码位可连接不同的测试电路，从而可以测试不同的参数，操作简便。

本发明另一个发明目的在于提供一种多功能测试工装结构和方法，所述结构和方法采用多种指示方式，通过对指示方式进行简单的识别可知道测试的基本数据，在集成化的电路结构中可提高检测效率。

为了实现至少一个上述发明目的，本发明进一步提供一种多功能测试工装结构，包括：

单片机；

电源电路；

多个测试电路；

通讯电路；

存储电路；

驱动电路；

其中所述电源电路、测试电路、通讯电路、存储电路和驱动电路分别连接所述单片机，电源电路连接变压器电源和DCDC电源，用于对测试工装结构供电，所述驱动电路连接多个指示器，指示器路用于发出指示信息，存储电路存储测试参数，通讯电路连接上位机，用于向上位机发送测试信息。

根据发明另一个较佳实施例，所述多功能测试工装结构具有一拨码开关，所述拨码开关具有4个码位，所述拨码开关连接多个测试电路，用于调节测试模式。

根据发明其中一个较佳实施例，所述测试电路包括Flash测试电路，所述 Flash测试电路连接所述拨码开关，所述Flash测试电路用于测试电子元件的 Flash波形，并向所述单片机发送待测试的Flash波形。

根据发明另一个较佳实施例，所述测试电路包括EEPROM测试电路，所述 EEPROM测试电路连接所述拨码开关，所述EEPROM测试电路用于测试 EEPROM通讯波形，并通过所述拨码开关设置EEPROM擦写次数操作模式。

根据发明另一个较佳实施例，所述测试电路包括红外光电管测试电路，该红外光电管测试电路连接所述拨码开关，通过拨码开关用于设置测试脉冲电流光电管寿命。