[发明专利]一种Wafer ID烧写防呆的系统

权利要求书

1.一种Wafer ID烧写防呆的系统，其特征在于，该系统以现有的MES系统为基础，在该系统内部至少开发：

订单录入模块，其中所述订单录入模块用于自动读取并录入客户下单时实物Wafer ID的原始数据；

测试访问模块，所述测试访问模块用于与测试Wafer的测试机连通，以获取所述测试机中实时录入的Wafer ID的测试数据；

数据比对模块，所述数据比对模块用于将订单录入模块录入的原始数据与所述测试机中获取的测试数据进行比对，并形成比对结果；以及

一反馈模块，其中所述反馈模块包括一修改策略生成模块和一执行修改模块，所述反馈模块被设置可通信地连接于所述数据比对模块，当数据比对模块比对结果显示的原始数据与测试数据不一致时，所述反馈模块的所述修改策略生成模块根据比对的结果和一阈值，以从所述订单录入模块获取的与所述测试数据相对应的原始数据为模板，相应地形成一修改策略，所述执行修改模块对应地执行所述修改策略，以相应地修改所述测试机中的测试数据，用以所述测试机根据修改后的测试数据对Wafer 烧写，所述阈值为被实施为所述原始数据与测试数据的匹配度。

2.根据权利要求1所述Wafer ID烧写防呆的系统，其特征在于，所述匹配度是所述阈值被实施为所述原始数据相同和/或不同参数的数量。

3. 根据权利要求1或2所述Wafer ID烧写防呆的系统，其特征在于，所述MES系统还包括一提示修改模块和一确认模块，所述提示修改模块被设置可通信地连接于所述提示修改模块，所述确认模块被设置可通信地连接于所述修改策略生成模块和一执行修改模块，所述提示修改模块在所述数据比对模块比对结果显示的原始数据与测试数据不一致时，形成一提示数据，并自动地传输所述提示数据和所述修改策略至所述MES系统的所述订单录入模块，以提示下单的用户和管理所述MES系统的测试厂管理员。

4. 如权利要求3所述的Wafer ID烧写防呆的系统，其特征在于，在所述测试机上设置有信息录入模块，实时录入待测试的实物Wafer ID的测试数据。

5. 如权利要求4所述的Wafer ID烧写防呆的系统，其特征在于，在所述测试机上设置有测试访问接口，所述测试访问模块通过所述测试访问接口与所述测试机连通，获取所述测试机录入Wafer ID的测试数据。

6. 如权利要求5所述的Wafer ID烧写防呆的系统，其特征在于，所述测试访问模块为双向数据传输，所述数据比对模块的比对结果通过所述测试访问模块传输到所述测试机的所述测试访问接口中，以执行后续操作。

7. 如权利要求6所述的Wafer ID烧写防呆的系统，其特征在于，所述数据比对模块进行数据比对的步骤为Wafer ID烧写的前置程序，当所述数据比对模块比对的结果显示原始数据与测试数据一致时，所述测试机执行Wafer ID烧写程序。

8. 如权利要求7所述的Wafer ID烧写防呆的系统，其特征在于，所述数据比对模块比对结果显示原始数据与测试数据不一致时，所述MES系统会发出警示提示，同时将警示信息通过所述测试访问模块传输到所述测试机中，以禁止所述测试机对Wafer的烧写操作。

9. 如权利要求1所述的Wafer ID烧写防呆的系统，其特征在于，所述数据比对模块比对的数据为原始数据和测试数据中的所有数据内容，至少包括Wafer Lot、片号、校验码数据。