[发明专利]一种光学检测电路和样本检测装置

权利要求书

1.一种光学检测电路，其特征在于，所述光学检测电路包括：

光传感器，用于获取光信号，并将所述光信号转换为电信号；

信号放大电路，用于对所述电信号进行放大处理；

滤波电路，连接所述信号放大电路，用于对放大后的所述电信号进行滤波处理，以便对滤波后的所述电信号进行采集；

直流分量监控电路，连接所述信号放大电路，用于对未经过所述滤波处理的所述电信号的直流分量进行放大处理，以便对放大后的所述直流分量进行采集和监控。

2.根据权利要求1所述的光学检测电路，其特征在于，

所述光传感器为硅光电倍增管。

3.根据权利要求2所述的光学检测电路，其特征在于，所述光学检测电路还包括反向击穿控制电路，连接所述硅光电倍增管，用于使所述硅光电倍增管工作在雪崩状态。

4.根据权利要求3所述的光学检测电路，其特征在于，

所述反向击穿控制电路包括：

偏置电路，连接所述硅光电倍增管，用于为所述硅光电倍增管提供偏置电压；

增益调整电路，连接所述偏置电路，用于对输入所述硅光电倍增管的电压进行增益调整。

5.根据权利要求4所述的光学检测电路，其特征在于，

所述偏置电路包括：

电源输入端；

电源管理芯片，所述电源管理芯片的Vin引脚连接所述电源输入端，所述电源管理芯片的APD引脚连接所述硅光电倍增管，所述电源管理芯片的GND引脚接地；

第一电感，所述第一电感的第一端连接所述电源输入端，所述第一电感的第二端连接所述电源管理芯片的SW引脚；

第一电容，所述第一电容的第一端连接所述SW引脚，所述第一电容的第二端连接所述电源管理芯片的PUMP引脚；

第二电容，所述第二电容的第一端连接所述电源输入端，所述第二电容的第二端接地。

6.根据权利要求5所述的光学检测电路，其特征在于，

所述偏置电路还包括：

第一电阻，所述第一电阻的第一端连接所述电源管理芯片的Vout引脚和MONIN引脚，所述第一电阻的第二端连接所述电源管理芯片的FB引脚；

第二电阻，所述第二电阻的第一端连接所述FB引脚，所述第二电阻的第二端接地；

第三电容，所述第三电容的第一端连接所述Vout引脚，所述第三电容的第二端连接所述FB引脚；

第四电容，所述第四电容的第一端连接所述Vout引脚，所述第四电容的第二端接地。

7.根据权利要求5所述的光学检测电路，其特征在于，

所述增益调整电路包括：

数字电位器；

第三电阻，所述第三电阻的第一端输入参考电压，所述第三电阻的第二端连接所述数字电位器的W1引脚；

第四电阻，所述第四电阻的第一端连接所述数字电位器的B1引脚，所述第四电阻的第二端接地；

第五电容，所述第五电容的第一端连接所述第三电阻的第二端，所述第五电容的第二端接地；

第一放大器，所述第一放大器的第一输入端连接所述第三电阻的第二端，所述第一放大器的第二输入端连接所述第一放大器的输出端，所述第一放大器的输出端连接所述电源管理芯片的CTRL引脚。

8.根据权利要求1所述的光学检测电路，其特征在于，

所述滤波电路包括：

第六电容，所述第六电容的第一端连接所述信号放大电路的输出端；

第五电阻，所述第五电阻的第一端连接所述第六电容的第二端，所述第五电阻的第二端接地；

第二放大器，所述第二放大器的第一输入端连接所述第六电容的第二端，所述第二放大器的第二输入端连接所述第二放大器的输出端，所述第二放大器的输出端用于输出可量化光学电压。