[发明专利]非易失性内存寿命检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种非易失性内存寿命检测方法，其特征在于，包括：

获取目标非易失性内存对应的第一内存运行数据；

将所述第一内存运行数据输入寿命检测模型，得到所述目标非易失性内存对应的使用寿命；所述寿命检测模型基于训练样本训练得到，所述训练样本由第二内存运行数据和固态硬盘运行数据生成；所述寿命检测模型的训练过程，包括：获取时长区间，以预设单位时长为粒度在所述时长区间中确定多个时长；获取初始硬盘数据，并利用所述初始硬盘数据生成硬盘差分数据；利用所述硬盘差分数据对所述初始硬盘数据进行各个所述时长的数据扩充处理，得到多个所述固态硬盘运行数据；利用所述第二内存运行数据与所述固态硬盘运行数据进行拼接，得到多个所述训练样本；获取时间序列模型，利用所述训练样本对所述时间序列模型进行训练，得到所述寿命检测模型；

输出所述使用寿命。

2.根据权利要求1所述的非易失性内存寿命检测方法，其特征在于，所述利用所述初始硬盘数据生成硬盘差分数据，包括：

将所述初始硬盘数据拆分为不同采样时刻对应的多个初始硬盘子数据；

按照时间先后顺序对所述初始硬盘子数据排序，并分别利用各组相邻的所述初始硬盘子数据计算多个所述硬盘差分数据。

3.根据权利要求1所述的非易失性内存寿命检测方法，其特征在于，还包括：

更新所述第二内存运行数据，得到第三内存运行数据；

利用所述第三内存运行数据和所述固态硬盘运行数据对训练样本库进行更新；所述训练样本库用于存储所述训练样本；

利用更新后的所述训练样本库对所述寿命检测模型进行更新，并将所述第三内存运行数据确定为新的所述第二内存运行数据。

4.根据权利要求3所述的非易失性内存寿命检测方法，其特征在于，所述更新所述第二内存运行数据，得到第三内存运行数据，包括：

按照目标频率获取标准非易失性内存对应的目标运行数据；所述标准非易失性内存用于生成所述第二内存运行数据，所述目标频率与所述标准非易失性内存的使用时长呈正相关关系；

对所述目标运行数据与所述第二内存运行数据进行拼接处理，得到所述第三内存运行数据。

5.根据权利要求4所述的非易失性内存寿命检测方法，其特征在于，所述利用所述第三内存运行数据和所述固态硬盘运行数据对训练样本库进行更新，包括：

利用所述第三内存运行数据和所述固态硬盘运行数据生成新训练样本；

生成所述新训练样本对应的新权重；所述新权重大于所述训练样本库中任一所述训练样本对应的旧权重；

将所述新训练样本和所述新权重存入所述训练样本库中。

6.一种非易失性内存寿命检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取目标非易失性内存对应的第一内存运行数据；

输入模块，用于将所述第一内存运行数据输入寿命检测模型，得到所述目标非易失性内存对应的使用寿命；所述寿命检测模型基于训练样本训练得到，所述训练样本由第二内存运行数据和固态硬盘运行数据生成；所述寿命检测模型的训练过程，包括：获取时长区间，以预设单位时长为粒度在所述时长区间中确定多个时长；获取初始硬盘数据，并利用所述初始硬盘数据生成硬盘差分数据；利用所述硬盘差分数据对所述初始硬盘数据进行各个所述时长的数据扩充处理，得到多个所述固态硬盘运行数据；利用所述第二内存运行数据与所述固态硬盘运行数据进行拼接，得到多个所述训练样本；获取时间序列模型，利用所述训练样本对所述时间序列模型进行训练，得到所述寿命检测模型；

输出模块，用于输出所述使用寿命。

7.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器，其中：

所述存储器，用于保存计算机程序；

所述处理器，用于执行所述计算机程序，以实现如权利要求1至5任一项所述的非易失性内存寿命检测方法。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，用于保存计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述的非易失性内存寿命检测方法。