[发明专利]非易失性内存寿命检测方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种非易失性内存寿命检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括：获取目标非易失性内存对应的第一内存运行数据；将第一内存运行数据输入寿命检测模型，得到目标非易失性内存对应的使用寿命；寿命检测模型基于训练样本训练得到，训练样本由第二内存运行数据和固态硬盘运行数据生成；输出使用寿命；该方法利用非易失性内存和固态硬盘的寿命周期类似的特性，可以利用固态硬盘运行数据对非易失性内存缺失的部分数据进行补充得到训练样本，基于此训练样本训练得到的寿命检测模型能够实现对非易失性内存的使用寿命进行检测的效果。

技术领域

本申请涉及内存技术领域，特别涉及一种非易失性内存寿命检测方法、非易失性内存寿命检测装置、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术

寿命检测可以基于一些固态硬盘、机械硬盘的使用情况和最终寿命时长，对其他的固态硬盘、机械硬盘等存储器件的使用寿命进行检测，以便得知在当前使用情况下固态硬盘、机械硬盘的剩余使用时间。非易失性内存，即persistent memory，是可以在掉电时仍保存其中数据的内存，其具有十分广泛的应用前景，对非易失性内存进行寿命检测同样十分重要。由于非易失性内存上市较晚，且预计寿命比固态硬盘更长，通常可以达到5至7年，当前还不存在非易失性内存达到正常使用寿命的例子，因此无法根据已知的非易失性内存使用情况和最终寿命对其他非易失性内存的使用寿命进行检测。

因此，相关技术存在的无法对非易失性内存的使用寿命进行检测的问题，是本领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种非易失性内存寿命检测方法、非易失性内存寿命检测装置、电子设备及计算机可读存储介质，利用非易失性内存和固态硬盘的寿命周期类似的特性，可以利用固态硬盘运行数据对非易失性内存缺失的部分数据进行补充得到训练样本，基于此训练样本训练得到的寿命检测模型能够实现对非易失性内存的使用寿命进行检测的效果。

为解决上述技术问题，本申请提供了一种非易失性内存寿命检测方法，包括：

获取目标非易失性内存对应的第一内存运行数据；

将所述第一内存运行数据输入寿命检测模型，得到所述目标非易失性内存对应的使用寿命；所述寿命检测模型基于训练样本训练得到，所述训练样本由第二内存运行数据和固态硬盘运行数据生成；

输出所述使用寿命。

可选地，所述寿命检测模型的训练过程，包括：

获取时长区间，以预设单位时长为粒度在所述时长区间中确定多个时长；

利用所述第二内存运行数据和所述固态硬盘运行数据，拼接生成各个所述时长对应的所述训练样本；

获取时间序列模型，利用所述训练样本对所述时间序列模型进行训练，得到所述寿命检测模型。

可选地，所述利用所述第二内存运行数据和所述固态硬盘运行数据，拼接生成各个所述时长对应的所述训练样本，包括：

获取初始硬盘数据，并利用所述初始硬盘数据生成硬盘差分数据；

利用所述硬盘差分数据对所述初始硬盘数据进行各个所述时长的数据扩充处理，得到多个所述固态硬盘运行数据；

利用所述第二内存运行数据与所述固态硬盘运行数据进行拼接，得到多个所述训练样本。

可选地，所述利用所述初始硬盘数据生成硬盘差分数据，包括：

将所述初始硬盘数据拆分为不同采样时刻对应的多个初始硬盘子数据；

按照时间先后顺序对所述初始硬盘子数据排序，并分别利用各组相邻的所述初始硬盘子数据计算多个所述硬盘差分数据。

可选地，还包括：