[发明专利]一种用于SoC芯片的跟踪调试信息处理电路及方法有效
申请号: | 202011553862.9 | 申请日: | 2020-12-24 |
公开(公告)号: | CN112612667B | 公开(公告)日: | 2022-11-22 |
发明(设计)人: | 王粟;肖佐楠;郑茳 | 申请(专利权)人: | 天津国芯科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26;G06F13/362 |
代理公司: | 天津企兴智财知识产权代理有限公司 12226 | 代理人: | 苏冲 |
地址: | 300457 天津市滨海新区开发*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 soc 芯片 跟踪 调试 信息处理 电路 方法 | ||
1.一种用于SoC芯片的跟踪调试信息处理方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:跟踪调试信息产生单元将跟踪调试数据流发送给跟踪调试信息处理电路;
S2:通过控制总线接口将传输过程的配置控制信息和从设备目标选择控制信息输入跟踪调试信息处理电路中;
S3:跟踪调试信息处理电路将并行的跟踪调试数据流转换为标准的PLB6片内总线主设备接口协议;
S4:将跟踪调试信息处理电路连接至主设备芯片内的PLB6总线上,将转换后的跟踪调试数据流发送至PLB6总线传输矩阵上;
S5:通过PLB6总线协议将跟踪调试数据流发送至与PLB6总线相连的其他从设备中。
2.根据权利要求1所述的一种用于SoC芯片的跟踪调试信息处理方法,其特征在于:步骤S2中利用的跟踪调试信息处理电路包括异步先入先出缓存器、控制状态寄存器、控制总线协议解析器、PLB6总线主设备协议生成器、目标地址生成器,跟踪调试信息处理电路将并行的跟踪调试数据流转换为标准的PLB6片内总线主设备接口协议的具体方法包括以下步骤:
A1:跟踪调试信息产生单元将跟踪调试数据流发送给异步先入先出缓存器;
A2:异步先入先出缓存器将跟踪调试数据流按照原顺序输出给PLB6总线主设备协议生成器;
A3:控制总线协议解析器将控制总线输入的配置控制信息解析出来,并送往控制状态寄存器的对应比特位;
A4:控制状态寄存器根据配置控制信息控制异步先入先出缓存器开关;
A5:控制总线协议解析器将控制总线输入的从设备目标选择控制信息解析出来,发送给目标地址生成器,目标地址生成器根据接收到的从设备目标选择控制信息生成目标地址发送给PLB6总线主设备协议生成器;
A6:PLB6总线主设备协议生成器将跟踪调试数据流发送至PLB6总线。
3.根据权利要求2所述的一种用于SoC芯片的跟踪调试信息处理方法,其特征在于:跟踪调试数据流为实时不间断输入的数据。
4.根据权利要求2所述的一种用于SoC芯片的跟踪调试信息处理方法,其特征在于:异步先入先出缓存器输入数据一侧的时钟,与跟踪调试信息产生节拍保持一致,输出数据一侧的时钟,与外接的PLB6总线时钟保持一致。
5.根据权利要求2所述的一种用于SoC芯片的跟踪调试信息处理方法,其特征在于:控制状态寄存器包括开关控制位、溢出状态位和异常状态位,溢出状态位用于对异步先入先出缓存器的溢出状态进行记录,异常状态位用于对PLB6总线传输状态进行记录,开关控制位、溢出状态位和异常状态位均可由控制总线协议解析器进行读和写操作;
开关控制位比特值为1时,异步先入先出缓存器开启,开关控制位比特值为0时,异步先入先出缓存器关闭;
异步先入先出缓存器缓存的跟踪调试数据流发生溢出时溢出状态位置1,未发生溢出时溢出状态位置0;
PLB6总线传输发生异常时异常状态位置1,未发生异常时异常状态位置0。
6.根据权利要求2所述的一种用于SoC芯片的跟踪调试信息处理方法,其特征在于:步骤A5中利用的目标地址生成器包括初始地址寄存器、累加步进寄存器、累加器,目标地址生成器生成目标地址的方法包括以下步骤:
B1:控制总线协议解析器将预先配置的控制信息对应发送给初始地址寄存器和累加步进寄存器,初始地址寄存器和累加步进寄存器分别将各自获取到的数值发送给累加器进行累加计算,从而得到当前目标地址;
B2:累加器将当前目标地址发送给协议生成器;
B3:每当PLB6总线主设备协议生成器完成一次PLB6总线传输发起,会回传应答成功标志给累加器,累加器会根据应答成功标志在当前目标地址的基础上,进行一次新的步进累加,生成下一次的新的目标地址;
B4:当PLB6从设备应答成功后,PLB6总线主设备协议生成器会向累加器发出应答标志,并从异步先入先出缓存器中按顺序取出多组跟踪调试数据,按照PLB6总线协议送至PLB6数据写在总线上。
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