[发明专利]一种无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法有效

专利信息
申请号: 202011554491.6 申请日: 2020-12-24
公开(公告)号: CN112671378B 公开(公告)日: 2023-04-14
发明(设计)人: 宋睿强;邵津津;刘必慰;吴振宇;梁斌;池雅庆;陈建军 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: H03K5/13 分类号: H03K5/13;H03K17/28;H03K19/094
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 胡君
地址: 410073 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 频率 损耗 集成电路 粒子 翻转 加固 方法
【权利要求书】:

1.一种无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法,其特征在于,步骤包括:

S1.触发器获取:获取目标集成电路中所有的触发器;

S2.触发器筛选:遍历获取的所有触发器进行判断,每次判断时对当前触发器所在的数据通路进行静态时序分析,计算出所述数据通路的时序余量,并计算将当前触发器替换为所需的加固触发器后建立时间参数以及CLK-Q延时参数的增量值,所述CLK-Q延时参数为触发器的时钟端CLK到输出端Q的延时,根据当前触发器对应的时序余量与所述增量值之间的差值判断当前触发器是否为所需筛选出的目的触发器;

S3.触发器加固:将步骤S2筛选出的所有目的触发器替换为所述加固触发器,得到加固后的集成电路;

所述步骤S2中,使用数据到达触发器输入端、输出端所需要的最大到达时间,以及触发器输入端、输出端必须要满足的到达时间,分别计算数据到达当前触发器输入端的第一时序余量以及数据到达当前触发器输出端的第二时序余量;

所述步骤S2中,判断当前触发器是否为所需筛选出的目的触发器具体为:如果对应建立延时参数的所述增量值小于当前触发器的第一时序余量TD,slack,且所述CLK-Q延时参数的增量值小于第二时序余量TQ,slack,则判定当前触发器为所需筛选出的目的触发器,所述第一时序余量TD,slack为数据到达当前触发器的输入端D的时序余量,所述第二时序余量TQ,slack为数据到达该触发器输出端Q的时序余量。

2.根据权利要求1所述的无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法,其特征在于,所述计算数据到达当前触发器输入端的第一时序余量的步骤包括:通过静态时序分析,计算数据到达当前触发器的输入端D所需要的第一最大到达时间TD,arrive,以及计算当前触发器的输入端D必须要满足的第一到达时间TD,require,根据所述第一最大到达时间TD,arrive、第一到达时间TD,require得到数据到达当前触发器的输入端D的第一时序余量TD,slack

3.根据权利要求1所述的无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法,其特征在于,所述计算数据到达当前触发器输出端的第二时序余量的步骤包括:通过静态时序分析,计算数据从当前触发器的输出端Q出发,到达下一级触发器的输入端D所需要的第二最大到达时间TQ,arrive,以及计算数据从当前触发器的输出端Q出发,到达下一级触发器输入端D必须要满足的第二到达时间TQ,require,根据所述第二最大到达时间TQ,arrive、第二到达时间TQ,require得到数据到达该触发器输出端Q的第二时序余量TQ,slack

4.根据权利要求1~3中任意一项所述的无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法,其特征在于,所述步骤S2中,所述增量值的具体计算步骤为:分别获取当前触发器与所述加固触发器的所述建立时间参数以及所述CLK-Q延时参数,将所述当前触发器与所述加固触发器之间的所述建立时间参数相减,得到替换为所需的加固触发器后建立时间参数的增量值ΔTsetup,以及将当前触发器与所述加固触发器之间的所述CLK-Q延时参数相减,得到替换为所需的加固触发器后CLK-Q延时参数的增量值。

5.根据权利要求1~3中任意一项所述的无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法,其特征在于,所述加固触发器具体选取与目标集成电路中触发器驱动能力相同、具有抗单粒子翻转效应功能的触发器。

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