[发明专利]一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统及其方法

权利要求书

1.一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括稳压电源、PCB板、待测芯片和万用表，其中，PCB板包括稳压电源电压装置、电信号脉冲产生装置、待测设备插座和触发开关；

稳定电源通过其电源接口和地接口连接PCB板上的稳压电源电压装置，稳压电源电压装置分别向待测设备插座、电信号脉冲产生装置和触发开关提供电源；

触发开关控制稳压电源提供电源，并选择待测芯片待测PIN；

待测设备插座连接待测芯片，万用表串联连接待测芯片的电源管脚，测试待测芯片电源管脚的电流值。

2.如权利要求1所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述稳压电源电压装置包括稳压电源输入接口和脉冲电压输入接口，稳压电源输入接口与脉冲电压输入接口相互隔离开。

3.如权利要求2所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述稳压电源输入接口连接稳定电源，输出电源。

4.如权利要求2所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述脉冲电压输入接口连接稳定电源，输出脉冲电压信号。

5.如权利要求4所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述脉冲电压输入接口连接万用表，并使用万用表测量脉冲电压输入接口的触发电压值。

6.如权利要求1所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述触发开关包括第一触发开关和第二触发开关。

7.如权利要求6所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述第一触发开关连接电信号脉冲产生装置，调节脉冲电压信号。

8.如权利要求6所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述第二触发开关作为选择开关，连接待测设备插座，用于选择待测芯片待测PIN。

9.一种用于检测芯片闩锁效应的测试方法，基于权利要求1～8所述的测试系统，其特征在于，所述测试方法的具体步骤如下：

步骤一、搭建测试环境，将PCB板、稳压电源和万用表连接起来；

步骤二、使用万用表串联连接待测芯片的电源管脚；

步骤三、将待测芯片插入PCB板上的待测设备插座，选择待测PIN；

步骤四、将稳定电源接通稳压电源输入接口和脉冲电压输入接口，调整待测芯片工作电压和脉冲电压信号，拨动第一触发开关进行脉冲电压信号触发；

步骤五、使用万用表测量待测芯片电源管脚的电流值，判断触发的脉冲电压信号是否造成闩锁效应；

步骤六、如果触发的脉冲电压信号发生闩锁效应，使用万用表测量脉冲电压输入接口的触发电压值，并判断待测芯片的抗闩锁能力；

步骤七、如果触发的脉冲电压信号未发生闩锁效应，则逐步提高脉冲电压信号的触发电压值，直到发生闩锁效应；

步骤八、重复步骤四～步骤七，直至完成待测芯片的电性能测试。