[发明专利]一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统及其方法

说明书

本发明提供了一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统及其方法，所述测试系统包括稳压电源、PCB板、待测芯片和万用表，其中，PCB板包括稳压电源电压装置、电信号脉冲产生装置、待测设备插座和触发开关；当进行检测待测芯片闩锁效应测试时，使用万用表测量待测芯片电源管脚的电流值，判断触发的脉冲电压信号是否造成闩锁效应，使得待测芯片的闩锁效应测试具有快速、易实现，测试过程简化且低成本的特点。

技术领域

本发明涉及集成电路芯片可靠性测试领域技术领域，尤其涉及一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统及其方法。

背景技术

随着电子技术的发展，电子电路的集成度越来越高，相关的电压瞬变会引起半导体器件失效，即闩锁效应(latch-up)。闩锁效应可使得器件在电源与地之间形成短路，造成大电流、EOS和器件损坏，是影响器件可靠性的一个潜在的严重问题。所以，通过闩锁测试评价芯片的抗闩锁能力，对于保证芯片的质量具有很重要的意义。本专利针对现有测试过程中存在的问题，提出了一种自主摸底测试的方案。

现有的测试闩锁效应的方法主要是委外第三方检测机构利用MK2机台进行测试。具体过程为：准备好足够数量的样品，进行闩锁测试前的电性能测试及IV测试，这个过程需要1天时间；然后准备针对此产品的闩锁测试方案发给第三方检测机构，之后将样品寄出到第三方检测机构，第三方检测机构收到样品需要1天时间；第三方检测机构收到样品后需要准备测试环境及测试脚本，然后利用MK2机台进行闩锁测试并测试前后的IV曲线，这个过程需要1天时间；之后第三方检测机构需要1天时间将样品寄回给委托方；委托方收到样品后进行电性能测试及IV曲线需要1天时间，最后汇总结果。

从现有的测试闩锁效应解决方案流程图中可看到，整个测试需要5天时间，如果第三方检测机构委托任务较多时测试时间还要延长，可能10天也无法完成测试。而且除时间较长之外，每次测试之前需要编写脚本，并且测试越细脚本越复杂时间越长，而由此产生的费用极其昂贵。因此，现有的闩锁测试方案时间长、繁琐且费用昂贵。

发明内容

针对上述现有技术中存在的不足，本发明的目的是提供一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统及其方法，该测试系统包括稳压电源、PCB板、万用表和待测芯片，使用万用表串联连接待测芯片的电源管脚，测试待测芯片的电流值，使得待测芯片的闩锁效应测试具有快速、便捷且易实现的特点。

为了达到上述技术目的，本发明所采用的技术方案是：

一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统，所述测试系统包括稳压电源、PCB板、待测芯片和万用表，其中，PCB板包括稳压电源电压装置、电信号脉冲产生装置、待测设备插座和触发开关；

稳定电源通过其电源接口和地接口连接PCB板上的稳压电源电压装置，稳压电源电压装置分别向待测设备插座、电信号脉冲产生装置和触发开关提供电源；

触发开关控制稳压电源提供电源，并选择待测芯片待测PIN；

待测设备插座连接待测芯片，万用表串联连接待测芯片的电源管脚，测试待测芯片电源管脚的电流值。

优选地，所述稳压电源电压装置包括稳压电源输入接口和脉冲电压输入接口，稳压电源输入接口与脉冲电压输入接口相互隔离开。

优选地，所述稳压电源输入接口连接稳定电源，输出电源。

优选地，所述脉冲电压输入接口连接稳定电源，输出脉冲电压信号。

优选地，所述脉冲电压输入接口连接万用表，并使用万用表测量脉冲电压输入接口的触发电压值。

优选地，所述触发开关包括第一触发开关和第二触发开关。

优选地，所述第一触发开关连接电信号脉冲产生装置，调节脉冲电压信号。

优选地，所述第二触发开关作为选择开关，连接待测设备插座，用于选择待测芯片待测PIN。