[发明专利]晶体生长装置及晶体生长方法在审

专利信息
申请号: 202011566460.2 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN112725890A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 狄聚青;朱刘;赵青松;牛晓东;顾小英;胡智向 申请(专利权)人: 清远先导材料有限公司
主分类号: C30B29/08 分类号: C30B29/08;C30B15/00;C30B15/12
代理公司: 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 代理人: 张向琨
地址: 511517 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 晶体生长 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种晶体生长装置,其特征在于,包括石墨坩埚(1)、密封罩(2)、第一坩埚(3)、第一密封盖(4)、第二坩埚(5)和加热件(6),

所述密封罩(2)具有第一密封空间(S1)和用于对第一密封空间(S1)抽真空的第一通孔(231),所述石墨坩埚(1)收容于所述第一密封空间(S1)中,所述密封罩(2)还围成朝上开口的收容槽(21);

所述第一密封盖(4)密封盖设于所述第一坩埚(3)的上端并与第一坩埚(3)形成第二密封空间(S2),所述第一密封盖(4)设有第二通孔(41)和第三通孔(42),所述第二通孔(41)供籽晶杆(R)穿过;

所述第一坩埚(3)悬设于收容槽(21)内且能够沿上下方向进出所述收容槽(21);

所述第二坩埚(5)设置于所述第二密封空间(S2)中,所述第二坩埚(5)用于盛放原料;

所述加热件(6)套设在所述密封罩(2)的外周。

2.根据权利要求1所述的晶体生长装置,其特征在于,所述密封罩(2)包括罩体(22)和第二密封盖(23),所述第二密封盖(23)密封盖设于所述罩体(22)的下端。

3.根据权利要求1所述的晶体生长装置,其特征在于,所述第一密封盖(4)还设有第四通孔(43)。

4.根据权利要求1所述的晶体生长装置,其特征在于,所述晶体生长装置还包括基座(7),所述基座(7)设置于所述第二密封盖(23)的上表面,所述石墨坩埚(1)支撑在所述基座(7)的上端。

5.根据权利要求1所述的晶体生长装置,其特征在于,所述加热件(6)的直径与所述石墨坩埚(1)的直径的比值范围为1.2-2。

6.根据权利要求1所述的晶体生长装置,其特征在于,所述晶体生长装置还包括磁流体密封装置(9),所述籽晶杆(R)与所述第二通孔(41)之间经由磁流体密封装置(9)密封。

7.根据权利要求1所述的晶体生长装置,其特征在于,所述加热件(6)沿上下方向覆盖石墨坩埚(1)。

8.一种晶体生长方法,其特征在于,采用权利要求1-6中任一项所述的晶体生长装置生长晶体,包括步骤:

(A1):在第二坩埚(5)内装入晶体原料,将籽晶杆(R)密封穿过第二通孔(41)并将籽晶(R1)装在籽晶杆(R)的下端,将第一坩埚(3)下降到密封罩(2)的收容槽(21)内且不与罩体(22)接触;

(A2):经由第一通孔(231)对第一密封空间(S1)进行抽真空,经由第三通孔(42)对第二密封空间(S2)进行抽真空,然后经由第三通孔(42)向第二密封空间(S2)通入氢气;

(A3):开启加热件(6)对石墨坩埚(1)加热,使得第二坩埚(5)内的原料熔化,将籽晶(R1)与熔化的原料接触,然后生长晶体。

9.根据权利要求8所述的晶体生长方法,其特征在于,

所述加热件(6)沿上下方向覆盖石墨坩埚(1);

在步骤(A3)中,当原料熔化后,调整第一坩埚(3)的高度直到熔化的原料的液面高度沿上下方向处于石墨坩埚(1)的中部。

10.根据权利要求8所述的晶体生长方法,其特征在于,在步骤(A2)中,对所述第一密封空间(S1)抽真空直到气压达到10-3Pa;对所述第二密封空间(S2)抽真空直到气压达到10-3Pa,然后通入氢气并将气压维持在10-3Pa。

11.根据权利要求8所述的晶体生长方法,其特征在于,在步骤(A2)中,通入氢气的纯度不小于7N,且氢气流量为0.1L-5L/min。

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