[发明专利]检测装置、控制系统及控制方法

说明书

本申请公开了一种检测装置、控制系统及控制方法。检测装置包括翻转机构及成像模组。翻转机构包括底板、支承架、旋转板及固定板，固定板用于固定所述工件；成像模组朝向所述固定板设置，用于获取所述工件的第一图像，以完成对所述工件的检测。上述的检测装置、控制系统及控制方法，通过翻转机构的翻转作用而改变工件的位置，使得成像模组可以获取工件在不同位置的图像，根据图像所呈现的特征对工件进行检测。本申请的检测装置、控制系统及控制方法可根据现场的视觉设备对工件的特征进行检测，能够满足现场对工件的全检需求。

技术领域

本申请涉及工件检测技术领域，具体涉及一种检测装置、控制系统及控制方法。

背景技术

现有工件，例如手机中框，其四个内倒角边在实际生产过程中通常采用光学测量仪器(OMM，Optical Measuring Machine)进行抽检。

然而，采用光学测量仪器进行抽检易造成漏检、检测时间过长，并且所采用的光学测量设备也较为贵重，无法满足现场全检需求。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提出一种检测装置、控制系统及控制方法，以解决上述问题。

本申请实施例第一方面提出一种检测装置，用于检测工件，包括：

翻转机构，包括：

底板；

支承架，连接所述底板；

旋转板，可转动地连接所述支承架，用于沿第一方向与所述支承架相对转动；

固定板，可转动地连接所述旋转板，用于沿第二方向与所述旋转板相对转动，且用于固定所述工件；及

成像模组，朝向所述固定板设置，用于获取所述工件的第一图像，以完成对所述工件的检测。

本申请实施例第二方面提出一种控制系统，用于控制治具调整待检测工件的位置，包括：

通信器，用于获取表征所述工件第一特征的第一图像，所述工件被一治具控制，所述工件处于第一位置；

处理器，耦接于所述通信器，用于：

确定所述第一图像达到预设条件；

基于所述第一图像达到预设条件，形成调整指令；

所述通信器，进一步用于发送所述调整指令，以使所述治具根据所述调整指令控制所述工件运动至第二位置。

本申请实施例第三方面提出一种控制方法，包括：

获取表征工件第一特征的第一图像，所述工件被一治具控制，所述工件处于第一位置；

确定所述第一图像达到预设条件；

基于所述第一图像达到预设条件，形成调整指令；

根据所述调整指令，调整所述治具以控制所述工件运动至第二位置。

上述的检测装置、控制系统及控制方法，通过翻转机构的翻转作用而改变工件的位置，使得成像模组可以获取工件在不同位置的图像，根据图像所呈现的特征对工件进行检测。本申请的检测装置、控制系统及控制方法可根据现场的视觉设备对工件的特征进行检测，能够满足现场对工件的全检需求。

附图说明

图1是本申请实施例的检测装置的结构示意图。

图2是本申请实施例的工件的结构示意图。

图3是本申请实施例的检测装置中显示元件的结构示意图。

图4是本申请实施例的工件在检测装置中处于第二位置的示意图。