[发明专利]一种精准度高的半导体发光用检测装置

权利要求书

1.一种精准度高的半导体发光用检测装置，包括支撑架（1），其特征在于：所述支撑架（1）的顶部栓接有工作台（2），所述工作台（2）的顶部栓接有检测箱（3），所述检测箱（3）正面的左侧通过合页铰接有第一箱门，且第一箱门的正面栓接有控制开关，所述检测箱（3）的顶部设置有移动机构（9），所述检测箱（3）顶部的右侧开设有第一通槽，所述移动机构（9）的底部贯穿第一通槽并栓接有移动板（21），所述移动板（21）左侧的顶部和底部均栓接有亮度传感器（22），所述检测箱（3）内腔的左侧栓接有安装板（4），所述安装板（4）右侧的中心处开设有卡槽（5），所述安装板（4）右侧的中心处活动连接有配合卡槽（5）使用的方形管（6），所述方形管（6）的顶部栓接有推板（7），所述检测箱（3）顶部的左侧开设有第二通槽，所述推板（7）的顶部贯穿第二通槽并栓接有推杆，所述推板（7）正面和背面的顶部均栓接有限位板（8），所述限位板（8）的底部与检测箱（3）的顶部滑动连接，所述检测箱（3）顶部的左侧开设有第三通槽，且第三通槽的内腔滑动连接有透光板（12），所述透光板（12）的底部与检测箱（3）内腔的底部活动连接，所述检测箱（3）正面的右侧通过合页铰接有第二箱门，所述检测箱（3）顶部的右侧从左至右依次栓接有第一挡板（15）和第二挡板（17）。

2.根据权利要求1所述的一种精准度高的半导体发光用检测装置，其特征在于：所述移动机构（9）包括电机（91）、丝杆（92）、固定板（93）、固定绳（94）、固定环（95）、定位板（96）、滑柱（97）、第一弹簧（98）、连接块（99）、第一导向轮（910）和第二导向轮（911），所述工作台（2）的右侧开设有放置槽，且放置槽内腔的底部栓接有放置板（16），所述放置板（16）的顶部栓接有电机（91），所述电机（91）的输出端栓接有丝杆（92），所述丝杆（92）的顶部通过轴承转动连接有顶板，且顶板的左侧与第二挡板（17）的右侧栓接，所述丝杆（92）的表面螺纹连接有螺纹套，且螺纹套的外圈嵌设有固定板（93），所述固定板（93）顶部的正面和背面均固定连接有固定绳（94），所述固定绳（94）远离固定板（93）的一侧系设有固定环（95），所述固定环（95）相向的一侧栓接有定位板（96），所述第一挡板（15）右侧的正面和背面均栓接有滑柱（97），所述滑柱（97）的右侧贯穿定位板（96）并与第二挡板（17）的左侧栓接，所述滑柱（97）的表面缠绕有第一弹簧（98），所述第一弹簧（98）的两侧与第一挡板（15）和定位板（96）相向的一侧栓接，所述定位板（96）底部的中心处栓接有连接块（99），所述连接块（99）的底部贯穿第一通槽并与移动板（21）的顶部栓接，所述检测箱（3）顶部右侧的正面和背面均通过轴承转动连接有第一导向轮（910），所述第二挡板（17）右侧的正面和背面均通过轴承转动连接有第二导向轮（911），所述第一导向轮（910）和第二导向轮（911）的表面均与固定绳（94）的表面传动连接。

3.根据权利要求1所述的一种精准度高的半导体发光用检测装置，其特征在于：所述检测箱（3）内腔正面和背面的左侧均栓接有配合透光板（12）使用的卡座（13），所述透光板（12）两侧顶部的正面和背面均栓接有凸块，且凸块的底部与检测箱（3）的顶部活动连接。

4.根据权利要求1所述的一种精准度高的半导体发光用检测装置，其特征在于：所述方形管（6）正面和背面的右侧均栓接有固定架（10），所述固定架（10）右侧的顶部和底部均栓接有第二弹簧（11），所述第二弹簧（11）远离固定架（10）的一侧与卡座（13）的左侧栓接。

5.根据权利要求2所述的一种精准度高的半导体发光用检测装置，其特征在于：所述定位板（96）的正面和背面均栓接有定位柱（18），所述检测箱（3）顶部右侧的正面和背面从左至右均依次栓接有配合定位柱（18）使用的L型定位块（19）。

6.根据权利要求1所述的一种精准度高的半导体发光用检测装置，其特征在于：所述检测箱（3）右侧的正面和背面均开设有第一滑槽（23），所述第一滑槽（23）的内腔滑动连接有配合固定板（93）使用的第一滑块（24）。