[发明专利]一种精准度高的半导体发光用检测装置

说明书

本发明公开了一种精准度高的半导体发光用检测装置，包括支撑架，所述支撑架的顶部栓接有工作台，所述工作台的顶部栓接有检测箱，所述检测箱正面的左侧通过合页铰接有第一箱门，且第一箱门的正面栓接有控制开关，所述检测箱的顶部设置有移动机构。本发明通过电机、丝杆、固定板、固定绳、固定环、连接块和定位板的配合，便于使用者利用电机带动固定绳向下移动，通过第一导向轮和第二导向轮的配合，便于使用者对固定绳进行换向，从而使固定绳可以通过定位板平稳带动移动板和亮度传感器向右侧移动，进而可以改变亮度传感器的位置，从而与同一位置的标准光亮数据进行对比，进而便于使用者快速知晓半导体发光亮度是否合格。

技术领域

本发明涉及半导体技术领域，具体为一种精准度高的半导体发光用检测装置。

背景技术

半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的，大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种。

使用者经常将半导体制作为发光体，在发光体制造完成之后需要对其的发光亮度进行检测，避免有质量问题的产品流入市场，然而传统半导体发光用检测装置的检测精准度低，无法将发光亮度较低的产品快速检测而出，使用者需要反复多次凭借肉眼观测，会给检测结果带来很大的误差，同时会提高使用者的劳动强度。

因此亟需设计一种精准度高的半导体发光用检测装置来解决上述问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种精准度高的半导体发光用检测装置，以解决上述背景技术中提出的传统半导体发光用检测装置检测精准度低的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种精准度高的半导体发光用检测装置，包括支撑架，所述支撑架的顶部栓接有工作台，所述工作台的顶部栓接有检测箱，所述检测箱正面的左侧通过合页铰接有第一箱门，且第一箱门的正面栓接有控制开关，所述检测箱的顶部设置有移动机构，所述检测箱顶部的右侧开设有第一通槽，所述移动机构的底部贯穿第一通槽并栓接有移动板，所述移动板左侧的顶部和底部均栓接有亮度传感器，所述检测箱内腔的左侧栓接有安装板，所述安装板右侧的中心处开设有卡槽，所述安装板右侧的中心处活动连接有配合卡槽使用的方形管，所述方形管的顶部栓接有推板，所述检测箱顶部的左侧开设有第二通槽，所述推板的顶部贯穿第二通槽并栓接有推杆，所述推板正面和背面的顶部均栓接有限位板，所述限位板的底部与检测箱的顶部滑动连接，所述检测箱顶部的左侧开设有第三通槽，且第三通槽的内腔滑动连接有透光板，所述透光板的底部与检测箱内腔的底部活动连接，所述检测箱正面的右侧通过合页铰接有第二箱门，所述检测箱顶部的右侧从左至右依次栓接有第一挡板和第二挡板。

优选的，所述移动机构包括电机、丝杆、固定板、固定绳、固定环、定位板、滑柱、第一弹簧、连接块、第一导向轮和第二导向轮，所述工作台的右侧开设有放置槽，且放置槽内腔的底部栓接有放置板，所述放置板的顶部栓接有电机，所述电机的输出端栓接有丝杆，所述丝杆的顶部通过轴承转动连接有顶板，且顶板的左侧与第二挡板的右侧栓接，所述丝杆的表面螺纹连接有螺纹套，且螺纹套的外圈嵌设有固定板，所述固定板顶部的正面和背面均固定连接有固定绳，所述固定绳远离固定板的一侧系设有固定环，所述固定环相向的一侧栓接有定位板，所述第一挡板右侧的正面和背面均栓接有滑柱，所述滑柱的右侧贯穿定位板并与第二挡板的左侧栓接，所述滑柱的表面缠绕有第一弹簧，所述第一弹簧的两侧与第一挡板和定位板相向的一侧栓接，所述定位板底部的中心处栓接有连接块，所述连接块的底部贯穿第一通槽并与移动板的顶部栓接，所述检测箱顶部右侧的正面和背面均通过轴承转动连接有第一导向轮，所述第二挡板右侧的正面和背面均通过轴承转动连接有第二导向轮，所述第一导向轮和第二导向轮的表面均与固定绳的表面传动连接。